[发明专利]一种用于晶体硅基太阳能电池晶片定位及标记的方法

说明书

本发明属于太阳能电池晶片制造技术领域，公开了一种用于晶体硅基太阳能电池晶片定位及标记的方法，包括以下步骤：S1、用激光照射的方法在晶片的表面打出定位标记和追溯码；S2、带有定位标记和追溯码的晶片进入后续工序时，后续工序读取追溯码并记录到对应的工序中；后续工序以定位标记作为定位基准，对晶片进行操作。本发明通过在晶片的表面打出定位标记和追溯码，使各工序都能够以定位标记作为统一的定位基准，提高晶片的重复定位精度；通过后续工序读取并存储追溯码，从而能够追溯晶片是通过哪些设备和工序制作的，方便生产出的晶片出现问题时，查找问题。

技术领域

本发明属于晶体硅基太阳能电池晶片制造技术领域，具体涉及一种用于晶体硅基太阳能电池晶片定位及标记的方法。

背景技术

晶体硅基太阳能电池晶片制作过程中，需要收集晶片经过的设备信息和工艺信息，已便于后续排查问题和收集数据。目前，通常是将多个晶体硅基太阳能电池晶片集中放到一个载具，例如包装箱，然后给载具贴上条码，从而方便在晶片出现问题时进行追溯。这种方式无法保证同一载具里的晶片都是通过同样的设备和/或工艺参数制作出来的，因此，在某一晶片出现问题时，无法准确追溯到该晶片是在哪一工序或哪一个设备上出现问题。由于材料和生产工艺的限制，晶体硅基太阳能电池晶片无法像非晶硅基太阳能电池晶片那样进行贴标签后用读码器进行数据收集。并且由于硅片在不同工序和不同设备需要重复定位，例如，丝网印刷和串焊；如果没有统一的定位标准，则重复定位的精度无法保证，导致晶片外观不一致的品质问题。因此需要重新寻找一种标记晶片的方法，从而实现对每一片晶片进行追溯，收集每一片晶片经过的设备信息和工艺信息。

发明内容

为了解决现有技术存在的上述问题，本发明目的在于提供一种用于晶体硅基太阳能电池晶片定位及标记的方法。本发明通过在晶片的表面打出定位标记和追溯码，使各工序都能够以定位标记作为统一的定位基准，提高晶片的重复定位精度；通过后续工序读取并存储追溯码，从而能够追溯晶片是通过哪些设备和工序制作的，方便生产出的晶片出现问题时，查找问题。

本发明所采用的技术方案为：

一种用于晶体硅基太阳能电池晶片定位及标记的方法，包括以下步骤：

S1、用激光照射的方法在晶片的表面打出定位标记和追溯码；

S2、带有定位标记和追溯码的晶片进入后续工序时，后续工序读取追溯码并记录到对应的工序中；后续工序以定位标记作为定位基准，对晶片进行操作。

进一步地，所述步骤S1中，包括以下步骤：

S11、将晶片放置到平台上，并定位晶片；

S12、用激光打标机在晶片的表面打出定位标记和追溯码。

进一步地，所述步骤S11中，采用视觉检测系统对晶片进行定位。

进一步地，所述采用视觉检测系统对晶片进行定位包括以下步骤：

P1、用大小和形状与晶片相同的标定片标定相机；

P2、使用经过步骤P1标定的相机捕捉晶片，并移动平台，使晶片移动到设定位置，完成晶片定位。

进一步地，所述步骤P1包括以下步骤：

P11、将标定片放置到平台上，移动平台，使标定片的其中一个顶角为第一顶角位于第一相机的视野，标定片的另一顶角为第二顶角位于第二相机的视野；

P12、第一相机捕捉第一顶角的两条边，得到第一顶角的顶点为第一顶点；

P13、第二相机捕捉第二顶角的两条边，得到第二顶角的顶点为第二顶点；

P14、通过第一顶点和第二顶点算出第一相机、第二相机和平台之间的关系，从而完成第一相机和第二相机的标定。