[发明专利]利用纠错码自动校正访问存储装置数据的装置及方法

说明书

本公开提供了一种利用纠错码自动校正访问存储装置数据的装置及方法，其中，该利用纠错码自动校正访问存储装置数据的装置包括：存储装置模块，用于存储数据，其包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域；编码器模块，包括监督位生成模块与合并模块，监督位生成模块用于根据数据生成监督位；合并模块用于将数据与监督位合并；解码器模块，用于当存储装置模块读取数据时，根据监督位检验所读取的数据的正确性，当发现所读取的数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给存储装置模块。本公开实现了数据自动校正的目的，避免了数据错误增多导致最后校正失败的情况。

本公开是2015年12月18日所提出的申请号为201510958912.4、公开名称为《一种用于自动校正访问存储装置数据的装置及方法》的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本公开涉及数据存储、数据校正等技术领域，特别涉及一种用于自动校正访问存储装置数据的装置及方法。

背景技术

目前存储系统采用纠错码(error correction codes，ECC)来进行检测和校正出错的数据。通常，通过在一系列固定长度的数据位后添加若干位固定的监督位来实现。在检测8比特数据时，若随机定位错误的数量由变量p表示，已知位置的符号错误的数量由变量q表示，之后提供m个ECC的监督位，则m，p与q之间的关系为m＝2p+q。

虽然ECC能够对存储系统中读出的数据进行校正，存放于存储系统中的出错数据并没有被校正。所以存储系统中的数据错误会不断积累，导致错误的数量太多，出现校正失败的问题。

发明内容

针对现有技术的不足，本公开提出一种用于自动校正访问存储装置数据的装置，包括：

存储装置模块，用于存储数据，其中所述存储装置模块包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域；

编码器模块，包括监督位生成模块与合并模块，其中所述监督位生成模块用于根据所述数据生成监督位；所述合并模块用于将所述数据与所述监督位合并；

解码器模块，用于当所述存储装置模块读取所述数据时，所述解码器模块根据所述监督位检验所读取的所述数据的正确性，当发现所读取的所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给所述存储装置模块。

在一些实施例中，所述用于自动校正访问存储装置数据的装置还包括读写单元模块，用于读写数据及读写与所述数据相对应的监督位；其中，所述解码器模块将校正后的数据发送给所述读写单元模块，由读写单元模块将校正后的数据发重新写回所述存储装置模块。

在一些实施例中，所述解码器模块包括校验子生成模块、数据解析模块、纠错码生成模块、数据纠错模块；其中所述校验子生成模块用于根据所述数据与所述监督位生成校验子，校验子用于生成纠错码；所述数据解析模块用于将所述数据与所述监督位分离，输出待校验数据；所述纠错码生成模块用于根据所述校验子生成纠错码与错误信息；所述数据纠错模块用于根据所述纠错码对所述待校验数据进行纠错。

在一些实施例中，所述监督位为m个，m＝2p+q，为随机错误数量，q为校正错误数量，p、q均为正整数。

在一些实施例中，所述错误信号中包含数据中错误的个数和错误是否可校正信号；若错误数据不可校正，则直接返回错误信号，若错误数据可校正，则将校正后的数据重新写会存储装置，由此实现数据自动校正。

本公开还提出一种用于自动校正访问存储装置数据的方法，包括：

步骤1，获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位，将所述数据与所述监督位合并；

步骤2，当所述存储装置读取所述数据时，根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给存储装置。