[发明专利]一种利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法

权利要求书

1.一种利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，利用电子探针通过波谱扫描得到待测元素的波谱扫描图；

S2，在所述待测元素的波谱扫描图的峰的左边的连续X射线处选取n₁个波谱位置，右边的连续X射线处选取n₂个波谱位置；

S3，利用电子探针通过定量分析分别测试选取的每一个波谱位置处的连续X射线的强度；

S4，以步骤S2选取的波谱位置为x轴，以步骤S3测试的每一个波谱位置处的连续X射线的强度为y轴，进行曲线拟合，得到待测元素的背景拟合方程；

S5，将待测元素的峰所处的波谱位置代入背景拟合方程，即得到待测元素的背景强度值,利用得到的待测元素的背景强度值和待测元素的峰强度值能够准确的计算待测元素的含量，消除背景强度对微量元素的含量的测试结果的影响。

2.如权利要求1所述的利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法，其特征在于，步骤S2中，n₁的取值为不小于2的整数，n₂的取值为不小于2的整数。

3.如权利要求1所述的利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法，其特征在于，步骤S4中，曲线拟合的方式包括二次多项式、指数函数、幂函数和对数函数，二次多项式的拟合方程为y＝ax²+bx+c，式中，a、b、c为常数；指数函数的拟合方程为y＝a^x，式中，a为常数；幂函数的拟合方程为y＝x^a，式中，a为常数；对数函数的拟合方程为y＝log_ax，式中，a为常数。

4.如权利要求1所述的利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法，其特征在于,所述步骤S5中，利用得到的待测元素的背景强度值和待测元素的峰强度值计算待测元素含量的具体方法为：

S5.1,利用电子探针通过定量分析测试得到待测元素的峰位置处的X射线强度值；

S5.2,根据峰位置处的X射线强度值和背景强度值计算待测元素的特征X射线强度值；

S5.3,根据待测元素的特征X射线强度值计算待测元素的含量。

5.如权利要求4所述的利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法，其特征在于，所述步骤S5.2中，待测元素的特征X射线强度值的计算公式为：

I’_NET＝I_PEAK-I’_BG，

式中，I’_NET为待测元素的特征X射线强度值，I_PEAK为待测元素的峰位置处的X射线强度值，I’_BG为待测元素的背景强度值。

6.如权利要求4所述的利用多点拟合确定连续X射线背景强度的方法，其特征在于，所述步骤S5.3中，待测元素的含量的计算公式为：

式中，为未知样品中待测元素的百分含量，为标准样品中待测元素的百分含量；I’_NET为未知样品中待测元素的特征X射线强度值；为标准样品中待测元素的特征X射线强度值；M_A^unk为未知样品中待测元素的基质校正因子，M_A^std为标准样品中待测元素的基质校正因子。