[发明专利]鉴频鉴相器电路在审

专利信息
申请号: 201810318222.6 申请日: 2018-04-10
公开(公告)号: CN110365329A 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 薛盘斗;冯光涛;张步新 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H03L7/091 分类号: H03L7/091
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 吴敏
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 第二信号 支路 上升沿 输出信号 鉴相 输出信号保持 电路 鉴频鉴相器 输入单元 相位差 输出 低电平 高电平 捕获 盲区
【说明书】:

一种鉴频鉴相器电路,包括:第一信号鉴相支路,用于根据第一信号输出第一输出信号,所述第一输出信号与第一信号的上升沿相关;第二信号鉴相支路,用于根据第二信号输出第二输出信号,所述第二输出信号与第二信号的上升沿相关,所述第一信号相位优先于第二信号,相位差范围为[0,2π];若第一信号和第二信号的相位差大于π,当第一信号的上升沿到来后,第一输出信号保持为高电平,当第二信号的上升沿到来后,第二输出信号保持为低电平。本发明通过在第一信号鉴相支路和第二信号鉴相支路中分别设置第一输入单元和第二输入单元,以控制第一信号和第二信号上升沿到来时其所在支路的输出,从而彻底防止了盲区的产生,并加快整个电路的捕获过程。

技术领域

本发明涉及集成电路领域,具体地涉及一种鉴频鉴相器电路。

背景技术

锁相环是一种能够跟踪输入信号的闭环自动相位控制系统,其理论基础为自动控制理论。锁相环具有载波跟踪特性,可以进行高精度的相位测量与频率测量。在模拟与数字通信系统中,锁相环已成为不可缺少的基本部件。其中,采用电荷泵结构的锁相环以其易于集成、低功耗、低抖动等优点,被广泛应用于无线通信、时钟产生、频率合成等领域。

鉴频鉴相器是电荷泵锁相环中的重要组成部分,用于检测参考信号与反馈信号之间的相位差。在电荷泵锁相环的设计过程中,高速、低功耗、输入范围较宽的鉴频鉴相器一直是设计难点。当两个输入信号的相位差接近于零时,传统的鉴频鉴相器的结构存在死区问题,为了解决死区问题通常在复位路径上加入延迟单元,延迟单元的加入会导致两个输入信号的相位差接近2π时,传统的鉴频鉴相器结构会遇到盲区的问题,即输入信号的上升沿无法被输出信号记录,从而使鉴频鉴相器的实际检测范围小于[-2π,2π],增加了锁定环的锁定时间。

目前,存在改进型的鉴频鉴相器结构,该鉴频鉴相器结构在复位路径中引入了输入信号,通过判断输入信号的高低有效地减少了盲区的产生,加快了电路的捕获过程。然而,当该鉴频鉴相器结构在两个输入信号的相位差为2π时,仍存在盲区问题。

因此,需要一种鉴频鉴相器,以防止盲区的产生。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种全面检测相位差的鉴频鉴相器电路。

为解决上述问题,本发明实施例提供一种鉴频鉴相器电路,包括:第一信号鉴相支路,用于根据第一信号输出第一输出信号,所述第一输出信号与第一信号的上升沿相关;第二信号鉴相支路,用于根据第二信号输出第二输出信号,所述第二输出信号与第二信号的上升沿相关,所述第一信号相位优先于第二信号,相位差范围为[0,2π];若第一信号和第二信号的相位差大于π,当第一信号的上升沿到来后,第一输出信号保持为高电平,当第二信号的上升沿到来后,第二输出信号保持为低电平。

可选地,若所述第一信号和所述第二信号的相位差不大于π,当第一信号和第二信号的上升沿到来时,所述第一输出信号和所述第二输出信号均跳转为高电平。

可选地,所述第一信号鉴相支路包括:第一输入单元,包括第一或非门,所述第一或非门适于接收第二信号和第二记忆信号,向第一触发器输出第一或非信号,所述第二记忆信号为第二记忆电路所产生;第一触发器,适于根据第一信号、第一或非信号、第一输出信号以及第二输出信号,输出第一记忆信号,所述第一记忆信号与第一输出信号相位相反;第一反相器,用于将第一记忆信号反相,输出第一输出信号。

可选地,所述第二信号鉴相支路包括:第二输入单元,包括第二或非门,所述第二或非门适于接收第一信号和第一记忆信号,向第二触发器输出第二或非信号,所述第一记忆信号为第一记忆电路所产生;第二触发器,适于根据第二信号、第二或非信号、第一输出信号以及第二输出信号,输出第二记忆信号,所述第二记忆信号与第二输出信号相位相反;第二反相器,用于将第二记忆信号反相,输出第二输出信号。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810318222.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top