[发明专利]一种钙钛矿量子功率密度检测设备及其检测方法

说明书

本发明公开了一种钙钛矿量子功率密度检测设备及其检测方法，包括底座和固定台，固定台的前侧上安装有高度调节显示装置，固定台后侧固定有后滑台，后滑台上适配有后滑块，后滑块的一侧连接有螺旋测微器，固定台的一侧套设有连接臂，连接臂的一端连接所述高度显示装置，另一端固定连接所述后滑块，连接臂上设有光纤固定座，光纤固定座上设有光纤探头，光纤固定座的正下方设有积分球盖，积分球盖连接有积分球，通过调节光纤探头与样品的距离即可改变激发光的激发范围，从而计算出钙钛矿量子的不同功率密度，这种方法可以简化测量操作，提高测量精度，螺旋测微器可调节所述光纤探头与样品的距离，高度调节显示装置可直观得到光纤探头的距离变化。

技术领域

本发明涉及量子检测技术，尤其涉及一种钙钛矿量子功率密度检测设备及其检测方法。

背景技术

随着量子点发光材料的持续发展，钙钛矿量子点的发展在新型发光材料中具有很高的科研价值并被看作显示材料明日之星。有机-无机杂化钙钛矿(CH3NH3PbX3,X＝Cl,Br,I) 材料是一种可溶液加工的半导体材料，具有低成本、载流子迁移率高、光吸收系数大等特点，近几年来在太阳能电池领域有非常优异的表现。与此同时，钙钛矿材料具有出波长可调、发射光谱窄等发光特性，在电致发光、激光、显示等领域中也有巨大的潜力。然而，由于其存在大量的本征缺陷，有机无机杂化钙钛矿薄膜材料在低密度光激发下的荧光量子效率很低(<20％)，限制了其在发光器件中的应用。最近研究表明，钙钛矿的尺寸减小，可以有效地降低其内部缺陷的数目，减少非辐射跃迁，有望提高其荧光效率。此外，当尺寸与其两倍的激子玻尔半径相当时，材料的激子结合能增加，可以有效提高激子的稳定性，有可能导致其辐射跃迁机制从“自由电子-孔穴复合”向“激子复合”模式转变，也成为提高发光效率的有利因素。因此，如何实现控制钙钛矿材料的尺寸和形貌成为钙钛矿材料研究领域的重要科学挑战。

功率密度是钙钛矿量子点的荧光量子效率计算的必要因素，目前功率密度的改变主要是通过不断改变激发光源的电流电压实现，这种方式测试的样品区域很小，而且调节激光光源的电流电压会影响光源的光谱稳定性。这种测量方式对于激发光源的性能要求非常高，激发光光源的经济成本也很高，在测量过程中的操作步骤繁琐，需要在改变激发光的功率密度后重新取出样品测量初始光子数来完成校正，然后放回样品反复操作才可以完成测量，非常耗费时间而且测试结果的误差会比较大。

发明内容

本发明针对上述现有技术存在的问题，提供了一种钙钛矿量子功率密度检测设备及其检测方法。

为了实现上述的目的，本发明采用以下技术措施：

一种钙钛矿量子功率密度检测设备，包括底座和固定台，所述固定台的前侧上安装有高度调节显示装置，固定台后侧固定有后滑台，所述后滑台上适配有后滑块，后滑块的一侧连接有螺旋测微器，所述固定台的一侧套设有连接臂，所述连接臂的一端连接所述高度显示装置，另一端固定连接所述后滑块，所述连接臂上设有光纤固定座，所述光纤固定座上设有光纤探头，光纤固定座的正下方设有积分球盖，积分球盖连接有积分球。

作为优选，所述高度调节显示装置为数显游标卡尺，其包括尺体、滑动块、固定螺丝、动臂梁、定臂梁、显示器以及前滑台，所述前滑台固定在所述固定台前侧，所述显示器通过固定螺丝固定在前滑台上端，尺体通过所述滑动块活动设置在所述前滑台上，所述定臂梁固定在所述前滑台的下端，定臂梁的正上方相对设置所述动臂梁，所述动臂梁固定在所述尺体底部。

作为优选，所述螺旋测微器包括固定砧、测微螺杆、连接块、固定刻度套筒、螺旋刻度套筒以及微调旋钮，所述测微螺杆穿过所述连接块并与固定刻度套筒相螺接，所述连接块固定连接所述后滑块，测微螺杆的底端与固定砧相抵触，测微螺杆的上端固接在螺旋刻度套筒内，螺旋刻度套筒套接在固定刻度套筒上；螺旋刻度套筒的外缘刻有圆周刻度，固定刻度套筒上有一主刻度尺，该主刻度尺包括一条沿轴向的中心线及该中心线旁边的主尺刻度。