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- [发明专利]密度检测系统及密度检测方法-CN201910740884.7有效
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刘坚;邹德翔;陈宁;张航;贺晟;熊岩;李蓉
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湖南大学
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2019-08-12
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2020-11-06
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G01N9/10
- 本发明公开了一种密度检测系统,包括:机器人,适于夹取待测管并带动待测管运动至预定位置,待测管装有待测颗粒;移液装置,包括驱动组件以及与驱动组件连接的移液泵,移液泵适于吸取基础滴定液,驱动组件适于带动移液泵运动至待测管上方进行基础滴定液的滴加图像采集装置,包括相机,适于采集滴加基础滴定液后的待测管的图像;以及计算设备,与相机相连,适于获取相机采集的图像,根据图像判断待测管是否达到滴定终点,在确定待测管未达到滴定终点后,指示移液装置向待测管中滴加密度不同于基础滴定液的滴定液,在确定待测管达到滴定终点后,将待测管中的液体的密度作为待测颗粒的密度。此外,本发明还公开了一种密度检测方法。
- 密度检测系统方法
- [发明专利]图象形成装置-CN02119809.8无效
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前桥洋一郎;广岛康一;中居智朗
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佳能株式会社
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2002-02-09
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2002-10-30
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G03G15/01
- 一种图象形成装置包括一图象承载体;和用于检测形成在所述图象承载体上用于密度检测的图象的密度的密度检测装置。图象形成条件基于从所述密度检测装置的输出被控制。所述密度检测装置具有通过从待检测部分反射的规则反射光检测密度的规则反射型密度检测装置,以及通过从待检测部分反射的漫反射光检测密度的漫反射型密度检测装置,从所述漫反射型密度检测装置输出的输出值基于从所述已检测一参考图象的规则反射型密度检测装置输出的输出值,以及基于从所述已检测所述参考图象的漫反射型密度检测装置输出的输出值而被校正。
- 图象形成装置
- [发明专利]一种纳米材料密度分布状态的检测方法-CN201910019103.5在审
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陈岚;葛广路;翟兆毅
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国家纳米科学中心
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2019-01-09
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2020-07-17
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G01N21/27
- 本发明公开了一种纳米材料密度分布状态的检测方法。该检测方法包括:提供检测容器;在检测容器中注入密度梯度溶液;将待检测纳米材料分散于密度梯度溶液中;利用检测光束对分散有待检测纳米材料的密度梯度溶液进行照射,对由检测容器和分散有待检测纳米材料的密度梯度溶液构成的整体进行第一次图像采集,得到第一次图像采集结果;根据第一次图像采集结果,得到待检测纳米材料密度分布状态。本发明实施例提供的纳米材料密度分布状态的检测方法,通过利用密度梯度溶液分离待检测纳米材料,并采用检测光束照射由检测容器和分散有待检测纳米材料的密度梯度溶液,在获取待检测纳米材料的密度分布时,操作简便,可应用于高通量的商业检测应用中
- 一种纳米材料密度分布状态检测方法
- [发明专利]X射线密度像质计-CN202110748418.0在审
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陈刚;陈玥霖
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陈刚;陈玥霖
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2021-06-28
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2021-11-09
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G01N23/04
- 本发明涉及一种聚乙烯及非金属材质X射线无损检测领域用X射线密度像质计,包括密度像质计型号标记区、密度像质计标识块、密度像质计识别区;密度像质计型号标记区设置于密度像质计标识块上,密度像质计型号标记区上标记有密度像质计型号、标准号,密度像质计标识块固定于密度像质计识别区,密度像质计识别区是由多种阶梯状且密度不同的聚乙烯材质及非金属材质连接构成。本发明拓展了X射线检测领域的检测范围,将传统上X射线无损检测只能检测金属材质发展到聚乙烯及非金属材质的X射线无损检测领域,填补了X射线无损检测对聚乙烯及非金属材质领域X射线密度检测法的空白。
- 射线密度像质计
- [发明专利]重介质选煤控制设备及其密度控制系统和方法-CN201010142595.6有效
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蒋德胜;肖海峰
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芬雷选煤工程技术(北京)有限公司
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2010-04-09
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2010-09-22
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B03B13/04
- 本发明公开了一种用于重介质选煤控制设备的密度控制系统,重介质选煤控制设备包括介质桶(26)和分选设备,二者通过管路(24)连通,密度控制系统包括检测装置(21)、控制装置(22)和调节阀(23),调节阀(23)连通水源(28)和管路(24);检测装置(21)检测调节阀(23)和分选设备之间的管路(24)中的悬浮液的密度;控制装置(22)接收检测密度信号,比较检测密度和预定密度;当检测密度小于预定密度时,控制调节阀(23)的开度减小;当检测密度等于预定密度时,控制调节阀(23)的开度不变;当检测密度大于预定密度时,控制调节阀(23)的开度增大。上述密度控制系统能够降低功耗和生产成本,保证分选出的精煤产品质量的稳定性。本发明还公开了一种重介质选煤控制设备和一种密度控制方法。
- 介质选煤控制设备及其密度控制系统方法
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