[发明专利]一种面板点灯测试系统及测试方法在审
申请号: | 201810101005.1 | 申请日: | 2018-02-01 |
公开(公告)号: | CN108267875A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 李强;豆婷 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 修补位置 点灯 点灯机 测试系统 控制装置 投影装置 电连接 测试 制程 投影 按压 背光 信号发生器 测试效率 测试信号 放置检测 工厂系统 面板显示 拍打 | ||
本发明提供一种面板点灯测试系统及测试方法,其中,面板点灯测试系统包括:面板点灯机,用于放置检测面板并在点灯测试时为所述检测面板提供背光;点灯机控制装置,用于根据所述检测面板的ID从工厂系统获取所述检测面板在制程中的修补位置信息,并将所述修补位置信息发送给投影装置;信号发生器,分别与所述点灯机控制装置和所述检测面板电连接,用于产生点灯测试信号控制所述检测面板显示相应画面;投影装置,与所述点灯机控制装置电连接,用于根据所述修补位置信息,并将修补位置投影到所述检测面板上。本发明通过增加投影装置,将检测面板在制程中的修补位置投影到检测面板上,便于检测人员针对性地去拍打或按压,提高了测试效率。
技术领域
本发明涉及屏幕显示技术领域,尤其涉及一种面板点灯测试系统及测试方法。
背景技术
液晶显示面板一般包含阵列基板、彩膜基板、位于阵列基板与彩膜基板之间的液晶层、用于封装液晶层的封框胶以及用于产生偏光的偏光片,其在生产过程中产生的不良,尤其是阵列基板在制程当中产生的不良,需要进行修补。在成盒(Cell)后的测试需要用到面板点灯机,通过简易式检测(Shorting bar)方式,在检测面板上显示整面的诸如白、红、绿、蓝、黑和灰阶等画面,但却无法在检测面板上显示出可能存在的修补位置信息,只能依靠检测人员盲目地拍打或按压,耗费大量时间和人力。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种有效提高测试效率的面板点灯测试系统及测试方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供一种面板点灯测试系统,包括:
面板点灯机,用于放置检测面板并在点灯测试时为所述检测面板提供背光;
点灯机控制装置,用于根据所述检测面板的ID从工厂系统获取所述检测面板在制程中的修补位置信息,并将所述修补位置信息发送给投影装置;
信号发生器,分别与所述点灯机控制装置和所述检测面板电连接,用于产生点灯测试信号控制所述检测面板显示相应画面;
投影装置,与所述点灯机控制装置电连接,用于根据所述修补位置信息,将修补位置投影到所述检测面板上。
其中,所述投影装置用于以激光方式将所述修补位置投射到所述检测面板上。
其中,所述投影装置投射的激光颜色与所述信号发生器控制所述检测面板显示的画面的颜色不相同,或是颜色相同但亮度不同。
其中,所述投影装置投射的激光为高亮绿色或高亮红色激光。
其中,所述修补位置信息是以修补点的坐标或修补线段的两个端点的坐标所表示的修补位置信息。
其中,所述点灯机控制装置在向所述投影装置发送的所述修补位置信息中还包括区域标识信息,所述投影装置将所述修补位置投射到所述检测面板上时,同时将区域标识投射到所述检测面板上。
其中,所述面板点灯机包括:
支撑体;
设置在所述支撑体上的工作台,用于容纳并固定所述检测面板;
设置在所述工作台后方的背光板,用于在点灯测试时为所述检测面板提供背光。
本发明还提供一种面板点灯测试方法,包括:
点灯机控制装置根据放置于面板点灯机上的检测面板的ID,从工厂系统获取所述检测面板在制程中的修补位置信息,并将所述修补位置信息发送给投影装置;
所述投影装置根据所述检测面板在制程中的修补位置信息,将修补位置投影到所述检测面板上;
信号发生器产生点灯测试信号控制被投射有修补位置的检测面板显示相应画面。
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