[发明专利]自化学机械平坦化基板移除残留物的组合物及方法有效

专利信息
申请号: 201780077334.0 申请日: 2017-11-29
公开(公告)号: CN110088881B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 黄禾琳;崔骥 申请(专利权)人: CMC材料股份有限公司
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;H01L21/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 肖靖泉
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 化学 机械 平坦 化基板移 残留物 组合 方法
【权利要求书】:

1.一种自CMP基板原位移除残留物的方法,该方法包含:

(a)提供CMP基板,其中该基板包含包括钨、铜或钴的表面层,

(b)提供包括垫的平台,

(c)提供包含以下的清洗溶液:

液体载剂,和

环糊精化合物,

其中该清洗溶液实质上不含磨料颗粒,以及

(d)使该垫及该清洗溶液与该基板的表面接触并运动,以自该表面移除该残留物。

2.如权利要求1的方法,其中基于清洗溶液的总重量,该清洗溶液包含10百万分率至50,000百万分率的环糊精化合物。

3.如权利要求1的方法,其中该清洗溶液由水及环糊精化合物组成。

4.如权利要求1的方法,其中该清洗溶液由以下组成:

水;

环糊精化合物;及

选自螯合剂、pH调节剂和杀生物剂中的一种或多种。

5.如权利要求1的方法,其中该清洗溶液进一步含有螯合剂。

6.如权利要求1的方法,其中该表面包含选自以下的残留物:有机材料以及包含有机材料及无机材料的沉淀、聚结或凝聚组合的残留物颗粒。

7.如权利要求1的方法,其中该残留物包含包括有机材料及含金属磨料颗粒的残留物颗粒。

8.如权利要求7的方法,其中该磨料颗粒为氧化铝颗粒。

9.一种用于原位处理CMP后基板的清洗溶液,该溶液包含:

液体载剂,及

基于清洗溶液的总重量,10百万分率至50,000百万分率的环糊精化合物,

其中该清洗溶液实质上不含磨料颗粒。

10.如权利要求9的清洗溶液,其由水及环糊精化合物组成。

11.如权利要求9的清洗溶液,其进一步包含螯合剂。

12.如权利要求11的清洗溶液,其中该螯合剂为含有羧酸基团的螯合剂。

13.如权利要求11的清洗溶液,其中该螯合剂为选自以下的化合物:丙二酸、马来酸、直链或支化的C1-C6羧酸化合物、苯二甲酸、琥珀酸、柠檬酸、酒石酸、苹果酸、葡萄糖酸、或其组合。

14.如权利要求11的清洗溶液,其中该螯合剂为含有羧酸基团的聚合物。

15.如权利要求9的清洗溶液,其中该溶液实质上不含表面活性剂。

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