[发明专利]自化学机械平坦化基板移除残留物的组合物及方法有效
申请号: | 201780077334.0 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN110088881B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
发明(设计)人: | 黄禾琳;崔骥 | 申请(专利权)人: | CMC材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 肖靖泉 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化学 机械 平坦 化基板移 残留物 组合 方法 | ||
1.一种自CMP基板原位移除残留物的方法,该方法包含:
(a)提供CMP基板,其中该基板包含包括钨、铜或钴的表面层,
(b)提供包括垫的平台,
(c)提供包含以下的清洗溶液:
液体载剂,和
环糊精化合物,
其中该清洗溶液实质上不含磨料颗粒,以及
(d)使该垫及该清洗溶液与该基板的表面接触并运动,以自该表面移除该残留物。
2.如权利要求1的方法,其中基于清洗溶液的总重量,该清洗溶液包含10百万分率至50,000百万分率的环糊精化合物。
3.如权利要求1的方法,其中该清洗溶液由水及环糊精化合物组成。
4.如权利要求1的方法,其中该清洗溶液由以下组成:
水;
环糊精化合物;及
选自螯合剂、pH调节剂和杀生物剂中的一种或多种。
5.如权利要求1的方法,其中该清洗溶液进一步含有螯合剂。
6.如权利要求1的方法,其中该表面包含选自以下的残留物:有机材料以及包含有机材料及无机材料的沉淀、聚结或凝聚组合的残留物颗粒。
7.如权利要求1的方法,其中该残留物包含包括有机材料及含金属磨料颗粒的残留物颗粒。
8.如权利要求7的方法,其中该磨料颗粒为氧化铝颗粒。
9.一种用于原位处理CMP后基板的清洗溶液,该溶液包含:
液体载剂,及
基于清洗溶液的总重量,10百万分率至50,000百万分率的环糊精化合物,
其中该清洗溶液实质上不含磨料颗粒。
10.如权利要求9的清洗溶液,其由水及环糊精化合物组成。
11.如权利要求9的清洗溶液,其进一步包含螯合剂。
12.如权利要求11的清洗溶液,其中该螯合剂为含有羧酸基团的螯合剂。
13.如权利要求11的清洗溶液,其中该螯合剂为选自以下的化合物:丙二酸、马来酸、直链或支化的C1-C6羧酸化合物、苯二甲酸、琥珀酸、柠檬酸、酒石酸、苹果酸、葡萄糖酸、或其组合。
14.如权利要求11的清洗溶液,其中该螯合剂为含有羧酸基团的聚合物。
15.如权利要求9的清洗溶液,其中该溶液实质上不含表面活性剂。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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