[发明专利]测试插座以及导电颗粒

说明书

本发明是有关于一种测试插座以及导电颗粒。测试插座包括：多个导电部，排列于与测试目标装置的端子对应的位置且在测试插座的表面方向上彼此间隔开，导电部中的每一者包括多个导电颗粒，多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的导电部之间，以支撑导电部并使导电部在表面方向上彼此绝缘，其中导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自本体的上端部突出，其中在彼此相邻的突出部之间设置有朝本体凹陷的凹陷部，且突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。

技术领域

本发明涉及一种测试插座以及导电颗粒，尤其涉及一种被配置成即便当测试插座频繁接触测试目标装置时仍长时间维持导电性的测试插座及导电颗粒。

背景技术

一般而言，在测试制程期间使用测试插座以检查所制造装置是否具有缺陷或错误。举例而言，当执行电性测试以检查所制造装置(测试目标装置)是否具有缺陷或错误时，不使所述测试目标装置与测试设备直接地接触彼此而是通过测试插座间接地连接至彼此。此乃因测试设备相对昂贵且在因频繁接触测试目标装置而被磨损或损坏，进而需要被新测试设备取代时造成困难及高的成本。因此，可将测试插座可拆卸地附接至测试设备的上侧，且接着可通过使测试目标装置接触测试插座而非使测试目标装置接触测试设备来将欲测试的所述测试目标装置电性连接至所述测试设备。此后，可经由测试插座将自测试设备产生的电性信号传输至测试目标装置。

此种测试插座被称作“各向异性导电连接件”，且相关技术的各向异性导电连接件被示出于图1及图2中。图1是说明相关技术的各向异性导电连接件的平面图，且图2是说明图1中所示各向异性导电连接件的剖视图。

各向异性导电连接件10包括：弹性各向异性导电膜15，在弹性各向异性导电膜15的厚度方向上具有导电性；以及框架板20，包含金属材料且支撑弹性各向异性导电膜15。

如图3中所示，在框架板20的长度方向及宽度方向上并排地形成有多个穿透孔21，所述多个穿透孔21具有矩形横截面形状且可在框架板20的厚度方向上延伸。在所示实例中，在框架板20的周边区中形成有用于对齐及放置各向异性导电连接件10的多个位置孔。

在弹性各向异性导电膜15的表面方向上，在与电极图案对应的图案中间隔地排列有用于与所述电极进行连接的多个导电连接部16。详言之，在弹性各向异性导电膜15的长度方向及宽度方向上并排地排列有多个导电连接部群组，所述多个导电连接部群组中的每一者包括根据图案的格栅点来排列的多个导电连接部16。此外，在本实例中，可在自身的厚度方向上延伸的多个导电非连接部18，在未排列有导电连接部群组的位置彼此间隔开地排列成环绕所述导电连接部群组，导电非连接部18以与排列导电连接部16相同的节距在表面方向上进行排列。导电连接部16与导电非连接部18通过排列于导电连接部16与导电非连接部18之间的绝缘部17而彼此绝缘。导电连接部16及导电非连接部18中的每一者包括磁性导电颗粒，所述磁性导电颗粒在绝缘弹性聚合物的厚度方向上紧密地排列于所述绝缘弹性聚合物中，且绝缘部17包含所述绝缘弹性聚合物。在所示实例中，导电连接部16中的每一者包括分别自绝缘部17的两侧突出的突出部位16A及16B。另外，弹性各向异性导电膜15被整体地固定至框架板20，且被框架板20以使得导电连接部群组分别位于框架板20的穿透孔21中的方式支撑，且导电非连接部18放置于框架板20上。

可如下制造相关技术的此种各向异性导电连接件。

首先，制造如图3中所示的框架板20。接下来，通过将磁性导电颗粒P分散至可被固化成绝缘弹性聚合物的液体聚合物成形材料中来制备可流动成形材料。另外，如图3中所示，制备用于形成弹性各向异性导电膜的模具50。接下来，使用间隔件(图中未示出)将框架板20对齐及设置于模具50的下部模具56的上表面上方，且使用间隔件(图中未示出)将模具50的上部模具51对齐及设置于框架板20上方。接着，将所制备成形材料填充于由上部模具51、下部模具56、所述间隔壁、及框架板20而形成的成形空间中，以形成成形材料层15A。