[发明专利]测试插座以及导电颗粒

权利要求书

1.一种测试插座，被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，所述测试插座包括：

多个导电部，排列于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且在所述测试插座的表面方向上彼此间隔开，所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒，所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在所述测试插座的厚度方向上对齐；以及

绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的所述导电部之间，以支撑所述导电部并使所述导电部在所述表面方向上彼此绝缘，

其中所述导电颗粒中的每一者包括：

本体，具有柱形状；

自所述本体的上端部突出的至少两个突出部；以及

自所述本体的下端部突出的至少两个突出部，

其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且

所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角，

其中所述突出部的所述相互面对的内表面被倾斜成将相邻的所述导电颗粒的所述突出部引导至所述凹陷部中。

2.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述本体的形状及大小使得当利用磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒站立于所述厚度方向上。

3.根据权利要求2所述的测试插座，其中所述本体中的每一者的h/w大于1，其中h是指自所述本体的所述上端部至下端部量测的垂直长度，且w是指与所述垂直长度垂直的所述本体的水平长度。

4.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述本体中的每一者的w/d大于1，其中d是指所述本体的厚度。

5.根据权利要求1所述的测试插座，其中在所述本体的所述上端部与下端部之间设置有侧向表面，且所述侧向表面自所述本体的所述上端部及所述下端部朝所述本体的中心部朝内凹陷。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试插座，其中在所述本体的侧向表面上设置有多个凹凸部。

7.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述本体的所述上端部与所述下端部上的所述突出部相对于所述本体对称。

8.一种用于测试插座中的导电颗粒，所述测试插座被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，

其中所述导电颗粒包括在所述测试插座的厚度方向上在所述测试插座的导电部中对齐的多个导电颗粒，所述导电颗粒排列于弹性绝缘材料中，且当所述测试目标装置的所述端子按压所述导电部时，排列于所述导电部中的所述导电颗粒彼此接触而使所述导电部变得有导电性，

其中所述导电颗粒中的每一者包括：

本体，具有柱形状；

自所述本体的上端部突出的至少两个突出部；以及

自所述本体的下端部突出的至少两个突出部，

其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且

所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角，

其中所述突出部的所述相互面对的内表面被倾斜成将相邻的所述导电颗粒的所述突出部引导至所述凹陷部中。

9.根据权利要求8所述的导电颗粒，其中所述本体在一个方向上伸长，以使得当通过磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒站立于所述测试插座的所述厚度方向上。