[发明专利]用于大型电子装置的电子纯单手性半导体性单壁碳纳米管在审
申请号: | 201780011603.3 | 申请日: | 2017-01-04 |
公开(公告)号: | CN108885967A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 李华平 | 申请(专利权)人: | 碳纳米管技术有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/02;H01L27/00;B82Y15/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 魏小薇 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 油墨 碳纳米管网络 半导体性单壁碳纳米管 半导体性碳纳米管 大型电子装置 电位 金属 薄膜晶体管 非线性电流 金属性杂质 平板显示器 偏压曲线 双二极管 有机材料 非晶硅 介电质 纳米管 纯碳 单手 制备 悬浮 施加 群体 | ||
一种电子纯碳纳米管油墨,包含悬浮在液体中的半导体性碳纳米管的群体,该油墨基本上无金属性杂质及有机材料,且其特征在于:当作为碳纳米管网络并入金属/碳纳米管网络/金属双二极管中时,在施加从0.01V至100V的电位的情况下,获得非线性电流‑偏压曲线。该油墨可被用于制备空气稳定的n型薄膜晶体管,所述n型薄膜晶体管具有类似于用于平板显示器非晶硅装置中的当前薄膜晶体管及具有高κ介电质的高性能p型薄膜晶体管的性能。
相关申请的交叉引用
本申请要求2016年10月11日提交的美国专利申请序列No.15/290575的优先权的权益,该申请要求2016年1月4日提交的美国专利申请序列No.62/274,634的权益,这些专利申请的内容通过引用以其整体并入本文。
通过引用并入
本文引用的所有专利,专利申请和出版物通过引用以其整体并入本文,以便更全面地描述本领域技术人员已知的本领域的技术状态,截止本文描述的发明的日期。
技术领域
本技术大致是关于高纯度单壁碳纳米管(SWCNT)。特别地,本发明关于SWCNT在电子装置中的用途。
背景技术
单壁碳纳米管(SWCNT)作为用于电子装置、计算机及薄膜晶体管背板的场发射晶体管的潜在应用吸引了研究者的注意力。但是SWCNT生长的混合本质阻碍了其的实施。一个原因是高纯度单手性(single chirality)SWCNT的不可获得性。使SWCNT纯化的当前方法依赖光谱筛选(screening)技术,该技术已被证明无法精确建立CNT纯度。使用被光学筛选方法视为“纯”的半导体性(semiconducting)SWCNT的装置普遍展示线性电流-偏压(“I-V”)响应,从而违背金属/半导体肖特基接触件的半导体特性且例示金属杂质及金属性SWCNT的存在。
半导体性单壁碳纳米管已展现取代高性能硅晶体管使用以应用于微处理器及射频装置中的能力。半导体性单壁碳纳米管(SWCNT)薄膜晶体管(TFT)亦展现用于大尺寸显示器背板的前景。大多数SWCNT TFT使用SiO2或Al2O3进行底部栅控(gated)。这些底部栅控SWCNT TFT的装置性能是不稳定的且在特定时间后降级,从而需要聚合物封装或无机薄膜钝化。相比之下,顶部栅控SWCNT TFT是稳定的且有实际应用的前景。已报导了数个顶部栅控SWCNT TFT,顶部栅控SWCNT TFT使用通过使用电子束蒸镀或原子层沉积而沉积的介电质材料(诸如HfO2、Al2O3、ZrO2及Y2O3)。这些成功装置的介电质材料皆在低温(<150℃)处沉积。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造