[实用新型]一种封装芯片引脚整形块有效
申请号: | 201721519226.8 | 申请日: | 2017-11-15 |
公开(公告)号: | CN207425817U | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 李领;李勋 | 申请(专利权)人: | 四川电科安信科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 成都嘉企源知识产权代理有限公司 51246 | 代理人: | 胡林 |
地址: | 610000 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 整形块 丝杆 螺母 本实用新型 封装芯片 滑动 控制槽 引脚 滑动设置 接触配合 可调节性 面相接触 倾斜设置 位置调节 轴向移动 转动调节 自由切换 螺母轴 整形 止推 轴向 | ||
本实用新型公开了一种封装芯片引脚整形块,包括基座,所述基座上设置有调节槽和控制槽,调节槽和控制槽内分别滑动设置有通过斜面相接触配合的调节块和控制块,所述控制块通过连杆与整形块相连,调节块上设置有调节丝杆,调节丝杆上设置有调节螺母,由于调节螺母轴向固定于基座上,因此转动调节螺母时,调节丝杆会发生轴向移动,从而带动调节块作轴向的滑动,由于调节块与控制块通过倾斜设置的止推面相接触,因此调节块会推动控制块滑动,从而实现了调节块的位置调节;本实用新型实现在不同整形规格之间的自由切换,提高了整形块的可调节性,且其调节方式简单、快速。
技术领域
本实用新型涉及集成电路封装设备技术领域,具体涉及一种封装芯片引脚整形块。
背景技术
DIP封装芯片是指采用双列直插式封装的集成电路芯片,绝大多数中小规模集成电路均采用此种封装形式。采用此种封装方式的芯片通常有两排引脚,采用直插到具有芯片插座上,或直接插在具有相同焊孔数和几何排列的电路板上进行焊接。
在DIP封装芯片的加工过程中,有一道工序为切筋成型,其功能是将封装在框架上IC产品分离成成品,产品在分离过程中及过程后,少部分产品会出现两排引脚跨度不达标的缺陷,或者客户要求将已经加工成型的产品的两排引脚跨度按照要求进行扩大,但是其使用的整形块大小固定,可调节性差,每更换一种整形规格就需要更换整形块,严重浪费资源。
公开号为CN10640972A的中国发明专利于2017年2月15日公开了一种FP芯片整形装置及整形方法,包括下整形块、上整形块;下整形块与上整形块之间通过合页结构铰接;下整形块上开有整形凹槽;上整形块上固定有与能够整形凹槽配合的整形凸槽;在上整形块上位于整形凸槽两侧的位置开有刀具切割口;上整形块上还安装有把手。本发明所提供的FP芯片整形装置及整形方法,解决了FP封装手工整形困难、共面性差、引脚易折断等难题,能有效保证FP芯片成形质量和成形后芯片的共面型,提高芯片的可焊性,减少焊接不良的产生。
实用新型内容
针对现有技术中存在引脚整形可调节性差的缺陷,本实用新型公开了一种封装芯片引脚整形块,采用本实用新型能够实现任意尺寸的芯片引脚调节,且具有操作简单,精确度高等优点。
本实用新型通过以下技术方案实现上述目的:
一种封装芯片引脚整形块,包括基座,所述基座上设置有密封板,其特征在于:所述基座的两侧均设置有整形块,基座内设置有调节槽,调节槽的两侧设置有与其相互连通的控制槽,所述调节槽和控制槽内分别滑动设置有相互配合的调节块和控制块,所述调节块与控制块之间通过倾斜设置的止推面相接触;所述控制块通过连杆与整形块相连;所述调节块上设置有调节丝杆,所述调节丝杆的一端伸出到基座外,且该段调节丝杆上设置有轴向固定于基座上的调节螺母。
所述基座上设置有滚动轴承,所述调节螺母固定安装于滚动轴承的内圈,调节螺母上还设置有调节手柄。
所述调节丝杆与调节块之间通过丝扣连接。
所述基座上还对称设置两个有定位槽,所述定位槽内滑动设置有定位杆,所述定位杆的两端均通过螺纹分别与整形块和定位块相连。
所述定位杆上还套置有复位弹簧。
所述止推面与水平方向的夹角为30°-45°。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
1、本实用新型的基座上设置有调节槽和控制槽,调节槽和控制槽内分别滑动设置有通过斜面相接触配合的调节块和控制块,所述控制块通过连杆与整形块相连,调节块上设置有调节丝杆,调节丝杆上设置有调节螺母,由于调节螺母轴向固定于基座上,因此转动调节螺母时,调节丝杆会发生轴向移动,从而带动调节块作轴向的滑动,由于调节块与控制块通过倾斜设置的止推面相接触,因此调节块会推动控制块滑动,从而实现了调节块的位置调节;本实用新型实现在不同整形规格之间的自由切换,提高了整形块的可调节性,且其调节方式简单、快速。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造