[实用新型]一种垂直结构ZnO基LED芯片有效
申请号: | 201721382783.X | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN207338419U | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 杨为家;吴质朴;何畏;陈强 | 申请(专利权)人: | 江门市奥伦德光电有限公司;五邑大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/02;H01L33/40;H01L33/10;B82Y30/00 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 梁嘉琦 |
地址: | 529000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 垂直 结构 zno led 芯片 | ||
本实用新型公开了一种垂直结构ZnO基LED芯片,包括:由下至上依次排列的作为p型电极的金属Al反射电极、p型Zn
技术领域
本实用新型涉及一种LED芯片结构,特别是一种垂直结构ZnO基LED芯片。
背景技术
发光二极管(LED)具有节能、环保、寿命长等众多优点,是未来照明和显示的必然发展趋势。目前,LED大多是基于GaN半导体材料的。然而,GaN材料由于制造设备相对昂贵、资源有限、薄膜外延困难等问题限制其持续性发展。因此及时研发下一代LED半导体材料是十分必要和急迫的。ZnO半导体材料的激子束缚能高达60meV,远远大于GaN的(25meV),有利于实现室温下的激光发射,且具有外延生长温度低、成膜性能好、原材料丰富、无毒等优点,且ZnO的制备及其器件应用研究也成为近年来的热点。
但ZnO的内部点缺陷非常多,对p型掺杂的补偿效应非常大,因而高质量p型掺杂ZnO制备十分困难。目前一般是通过在p型GaN薄膜上外延n型ZnO薄膜,但二者之间的界面存在非常多的点缺陷,严重影响发光效率,且外延结构复杂。为了促进ZnO基LED的发展,采用一种简单而有效的方案来提高ZnO基LED的性能显得极为重要。
实用新型内容
为解决上述问题,本实用新型的目的在于提供一种垂直结构ZnO基LED芯片,结构简单,在生产时能简化工序,降低对生产设备的要求,有效提高LED的出光效率。
本实用新型解决其问题所采用的技术方案是:
一种垂直结构ZnO基LED芯片,包括:由下至上依次排列的作为p型电极的金属Al反射电极、p型Zn
优选地,所述p型Zn
进一步,所述i型Al
进一步,所述i型Al
进一步,所述n型ZnO薄膜层厚度为300-1500nm。
优选地,所述n型电极选用Al单晶或者Cu单晶材料。直接使用Al单晶或者Cu单晶作为支撑衬底,同时起到n电极的作用,而且金属散热性能非常好,有利于实现超大功率LED芯片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江门市奥伦德光电有限公司;五邑大学,未经江门市奥伦德光电有限公司;五邑大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201721382783.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。