[实用新型]一种带铅字标定尺

说明书

技术领域

本实用新型涉及射线检测领域，尤其是设计一种带铅字标定尺。

背景技术

作为五大常规无损检测方法之一的射线探伤，在工业上有着非常广泛的应用。当强度均匀的射线束透照射物体时，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，这样，采用一定的检测器（例如，射线照相中采用胶片）检测透射射线强度，就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等。

在我国现有的射线检测中，对于长尺寸的工件，在底片中的缺陷位置定量无尺寸标示，对缺陷在工件中的位置得用尺子在底片上测量后按比例重新计算，不仅麻烦而且不够准确。

例如，中国专利文献中授权公告号为CN204832069U，授权公告日为2015年12月2日公开的名为“用于射线检测的片位标记尺”的实用新型专利，该申请案公开了一种用于射线检测的片位标记尺，包括尺带，尺带的左右两端分别设有尼龙搭扣，尺带的外表面上设有以毫米为单位的尺寸刻度，尺带的内表面上设有多个铅质标记，尺带的内表面上还设有多个带有标示字符的反光条。该实用新型的有益效果是有反光条作为标记，在夜间照相不易将暗袋贴偏，有利于完成标记。其不足之处在于标记尺只能确定缺陷的大概位置，对于缺陷的具体位置难以确定，如果铅质标记过大，在用照相检测时由于标记位置过大，不易确定待检测物体的缺陷位置从而对探伤检测出现误差；铅质标记过小，会增加照相机捕捉的难度。

为此设计一种探伤检测精度高同时照相机易捕捉的带铅字标定尺就很有必要了。

实用新型内容

本实用新型要克服现有的射线检测中比例计算缺陷位置，步骤繁琐且准确性低的不足，提供了一种带铅字标定尺，对于待检测物体的检测精度高且相机易捕捉，提高射线检测的检测效率。

为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案。

一种带铅字标定尺，包括外壳体和设在外壳体内的软尺，软尺上设有铅字标识，外壳体一侧设有可以让软尺伸出的开口，外壳体靠近开口的一侧设有与开口所处的位置相切的直卡尺。直卡尺上设有尺寸刻度，通过直卡尺和软尺刻度构成经纬的平面坐标可以精确的确定物体内部的缺陷和物质分布的位置，从而提高射线检测的检测效率。

作为优选，外壳体侧面设有角度刻度盘。角度刻度盘可以记录软尺伸出外壳体时倾斜的角度，有利于精确待测物体内部的缺陷位置。

作为优选，直卡尺可滑动的固定在外壳体的侧面。直卡尺可以滑动到外壳体的开口位置，在应用时可以直接卡住软尺，对卡尺起到限位固定的作用。

作为优选，角度刻度盘圆心为开口上远离直卡尺一侧。直卡尺对软尺进行限位后，软尺的侧面与开口远离直卡尺的一侧贴合，角度刻度盘的圆心为该侧可以精确角度测量的精度从而使标定尺的位置测量准确，有利于提高射线检测的检测效率。

作为优选，直卡尺上的尺寸刻度表面设有荧光层，直卡尺的上、下侧面分别设有与尺寸刻度对应的铅质刻度。荧光层可以起到照明作用，方便检测时暗袋的粘贴；铅质刻度可以被照相机捕捉，方便确定缺陷的具体位置和分布。

作为优选，角度刻度盘上的刻度表面设有荧光涂层。荧光图层方便对角度刻度盘上的刻度读数，有利于确定待检测物体的检测精度，提高射线检测的检测效率。

本实用新型具有如下有益之处：

1、直卡尺上设有尺寸刻度，通过直卡尺和软尺刻度构成经纬的平面坐标可以精确的确定物体内部的缺陷和物质分布的位置，从而提高射线检测的检测效率；

2、外壳体上设有角度刻度盘，角度刻度盘可以记录软尺伸出外壳体时倾斜的角度，有利于精确待测物体内部的缺陷位置；

3、直卡尺可滑动的固定在外壳体的侧面，在应用时可以直接卡住软尺，对卡尺起到限位固定的作用。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型中外壳体内部的部分结构剖视图。

图中：软尺1 铅字标识11 外壳体2 开口21 角度刻度盘22 限位滑槽23 直卡尺3 铅质刻度31 滑动凸块32。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行进一步的描述。