[发明专利]识别方法、识别装置、计算机可读存储介质及程序产品

说明书

本发明提供一种识别方法、识别装置、计算机可读存储介质及计算机程序产品。用于识别显示面板的缺陷，所述识别方法包括：采集图片，获取所述图片的特征信息；将所述特征信息与缺陷数据库中的多个缺陷参数进行比对；判断所述特征信息是否可以由多个相关的所述缺陷参数来表征，若所述特征信息可以由多个相关的所述缺陷参数来表征，则判定所述特征信息为缺陷信息。本发明有助于提高显示面板缺陷识别的效率以及准确度。

技术领域

本发明涉及图像识别技术领域，尤其涉及一种识别方法、识别装置、计算机可读存储介质及程序产品。

背景技术

随着对显示技术的不断研究，人们对显示面板的质量和显示效果的要求也越来越高。在显示面板的生产过程中，需要对已经生产完成的显示面板进行缺陷检测，以提高显示面板的优良率。现有技术中，通常采用人工对显示面板的缺陷进行识别，识别效率较低。

发明内容

本发明提供一种识别方法，用于识别显示面板的缺陷，所述识别方法包括：

采集图片，获取所述图片的特征信息；

将所述特征信息与缺陷数据库中的多个缺陷参数进行比对；

判断所述特征信息是否可以由多个相关的所述缺陷参数来表征，若所述特征信息可以由多个相关的所述缺陷参数来表征，则判定所述特征信息为缺陷信息。

本发明提供的识别方法，首先采集图片，获取图片的特征信息，然后将特征信息与缺陷数据库中的多个缺陷参数进行比对，判断特征信息是否可以由多个相关的缺陷参数来表征，如果特征信息可以由多个相关的缺陷参数中的至少一个缺陷参数来表征，那么说明该特征信息为缺陷信息。相较于人工识别显示面板缺陷的方式，本技术方案可以提高显示面板缺陷识别的效率。进一步的，通过缺陷数据库中多个缺陷参数中的至少一个缺陷参数来表征特征信息，将缺陷数据库中的一个或多个缺陷参数综合分析，进而判定特征信息是否为缺陷信息，可以提高显示面板缺陷识别的准确度。

本发明还提供一种识别装置，所述识别装置包括存储器及处理器，所述存储器存储有识别程序，所述处理器读取所述识别程序，以执行如上所述的识别方法。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，其存储了识别程序，其中，所述识别程序被执行的时候执行：如上所述的识别方法。

本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储了所述识别方法的计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，所述识别方法的计算机程序被执行的时候执行：如上所述的识别方法。

附图说明

为了更清楚地阐述本发明的构造特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对其进行详细说明，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明提供的一种识别方法的流程图。

图2是本发明中步骤S200对应的流程图。

图3是本发明中步骤S200之前的步骤对应的流程图。

图4是本发明提供的一种识别方法的局部流程图。

图5是本发明中步骤S320之后的步骤对应的流程图。

图6是本发明中步骤S320之后的步骤对应的流程图。

图7是本发明提供的一种识别方法对应的局部流程图。

图8是本发明中步骤S400对应的流程图。

图9是本发明实施例提供的识别装置的一种可能的结构示意图。

具体实施例