[发明专利]识别方法、识别装置、计算机可读存储介质及程序产品有效

专利信息
申请号: 201711498968.1 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108074240B 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 王鹏;周敬;陈新鹏 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 识别 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 程序 产品
【权利要求书】:

1.一种识别方法,用于识别显示面板的缺陷,其特征在于,所述识别方法包括:

采集图片,获取所述图片的特征信息;

提取所述特征信息包含的M个待识别特征,根据M个所述待识别特征中的每一个所述待识别特征与缺陷数据库中的N个缺陷参数的关联程度,以得到M个所述待识别特征与所述缺陷数据库中的N个所述缺陷参数的关联信息,其中,M、N均为正整数;

将所述关联信息反馈给所述缺陷数据库,以更新所述缺陷数据库;

将所述待识别特征与所述缺陷数据库中的所述缺陷参数进行比对;

判断所述特征信息是否可以由多个相关的所述缺陷参数来表征,若所述特征信息可以由多个相关的所述缺陷参数来表征,则判定所述特征信息为缺陷信息。

2.如权利要求1所述的识别方法,其特征在于,在所述“若所述特征信息可以由多个相关的所述缺陷参数来表征,则判定所述特征信息为缺陷信息”之后,所述识别方法还包括:

将所述缺陷信息反馈给所述缺陷数据库,以更新所述缺陷数据库中的所述缺陷参数。

3.如权利要求2所述的识别方法,其特征在于,所述“将所述缺陷信息反馈给所述缺陷数据库,以更新所述缺陷数据库中的所述缺陷参数”包括:

将所述缺陷信息反馈给所述缺陷数据库;

所述缺陷数据库根据所述缺陷信息所包含的缺陷特征与所述缺陷参数的关联程度,重新调整所述缺陷数据库中的所述缺陷参数。

4.如权利要求1所述的识别方法,其特征在于,所述“若所述特征信息可以由多个相关的所述缺陷参数来表征,则判定所述特征信息为缺陷信息”包括:

根据所述特征信息与多个相关的所述缺陷参数的关联程度,对多个相关的所述缺陷参数分配权重参数;

根据所述权重参数确定所述特征信息的缺陷等级,其中,所述缺陷等级的数值越大,表明缺陷越严重。

5.如权利要求4所述的识别方法,其特征在于,在所述“根据所述权重参数确定所述特征信息的缺陷等级”之后,所述识别方法还包括:

在确定所述缺陷等级大于或者等于预设阈值的情况下,对所述缺陷等级对应的所述缺陷特征进行补充判定,以获得所述补充判定的结果;

根据所述补充判定的结果更新所述缺陷数据库中的所述缺陷参数。

6.如权利要求5所述的识别方法,其特征在于,在所述“根据所述权重参数确定所述特征信息的缺陷等级”之后,所述识别方法还包括:

在确定所述缺陷等级小于预设阈值的情况下,将所述特征信息反馈给所述缺陷数据库,以更新所述缺陷数据库中的所述缺陷参数。

7.一种识别装置,其特征在于,所述识别装置包括存储器及处理器,所述存储器存储有识别程序,所述处理器读取所述识别程序,以执行如权利要求1~6任意一项所述的识别方法。

8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其存储了识别程序,其中,所述识别程序被执行的时候执行:如权利要求1~6任意一项所述的识别方法。

9.一种计算机设备,所述计算机设备包括存储了识别方法的计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,所述识别方法的计算机程序被执行的时候执行:如权利要求1~6任意一项所述的识别方法。

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