[发明专利]一种大视场扫描系统在审
申请号: | 201711483660.X | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108303179A | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 郑联慧;魏茂金;颜慧贤 | 申请(专利权)人: | 三明学院 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人: | 郭福利;魏思凡 |
地址: | 365000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 视场扫描 平面镜 大视场扫描 狭缝部 准直镜 旋转驱动机构 光学望远镜 光栅光谱仪 光束入射 光栅部 采集 光学系统结构 光谱信息 光学系统 活动目标 同步转动 计算机 太阳 入射 装调 反射 平行 驱动 转化 | ||
本发明涉及一种大视场扫描系统,其包括太阳光学望远镜、视场扫描装置、旋转驱动机构、光栅光谱仪、CCD相机和计算机;光栅光谱仪具有狭缝部、准直镜和光栅部;视场扫描装置包含两相互平行的平面镜;旋转驱动机构用以驱动两平面镜同步转动;太阳光学望远镜用于采集太阳大气活动目标发出的光束,且采集的光束经两平面镜依次反射后进入狭缝部;经过狭缝部的光束入射至准直镜,且在准直后的光束入射至光栅部;CCD相机用于采集重新入射至准直镜的光束并将其转化为电信号,计算机用以根据电信号形成对应的光谱信息。本发明提出的大视场扫描系统,其视场扫描装置采用双平面镜的视场扫描方式,简化了光学系统结构,降低了光学系统的装调要求。
技术领域
本发明涉及光学扫描装置,具体地,涉及一种大视场扫描系统。
背景技术
狭缝式光栅光谱仪是研究太阳磁场分布的重要仪器,并且在太阳大气的观测中得到了广泛的运用,北京科学出版社1987年出版的《实测天体物体学》内有黄佑然,许熬敖,秦志海等人发表的相关技术资料。
为了研究太阳磁场在不同太阳大气上的分布特性,通常采用三维光谱成像技术。三维光谱成像技术可分为基于光纤阵列的视场积分单元(IFU)技术、像切割器技术和视场扫描技术(王俊凡,朱永田,胡中文.基于积分视场单元的三维天文成像光谱技术[J].天文学进展,2008,26(1):73-79.)。
相对于视场积分单元技术和像切割器技术,视场扫描技术具有结构简单,使用方便,加工要求低和便于装调等优点,在各个领域都得到了广泛的运用。传统的视场扫描技术可分为瞳面tip-tilt单镜扫描和K镜扫描。其中,tip-tilt单镜扫描技术通常采用压电陶瓷驱动,但其摆放位置有严格的空间限制,必须置于瞳面位置。K镜扫描技术由三个平面镜组成,且呈K字型排列,其特点是经K镜后光轴方向不改变。相对于tip-tilt单镜扫描技术,K镜扫描技术尽管没有空间摆放位置的严格限制,但是对光学系统的装调提出了较高的要求(Stolpe F,Kneer F.MISC,an instrument for multi-dimensional spectroscopy[J].Astronomy&Astrophysics Supplement,1998,131(1):181-185.)。基于以上背景,特提出本申请。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是如何简化大视场扫描系统、并降低光学装调要求、同时消除视场扫描装置空间摆放位置的严格限制。
本为解决上述技术问题,本发明提出一种大视场扫描系统,其包括太阳光学望远镜、视场扫描装置、旋转驱动机构、光栅光谱仪、CCD相机和计算机;所述光栅光谱仪包含有狭缝部、准直镜和光栅部;所述视场扫描装置包含第一平面镜和第二平面镜,第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相互平行;所述旋转驱动机构用以驱动第一平面镜和第二平面镜同步转动;所述太阳光学望远镜用于采集太阳大气活动目标发出的光束,且太阳光学望远镜采集的光束经第一平面镜和第二平面镜依次反射后进入狭缝部;经过所述狭缝部的光束入射至准直镜,且经由准直镜准直后的光束入射至光栅部进行色散分光;经光栅部色散分光后的部分光束重新入射至所述准直镜;所述CCD相机用于采集重新入射至所述准直镜的光束并将其转化为电信号至所述计算机,所述计算机用以根据所述电信号形成对应的光谱信息。
较佳地,所述第一平面镜的旋转中心和所述第二平面镜的旋转中心的距离为h,所述视场扫描装置的扫描范围为s,视场扫描装置对扫描范围内的光束完成扫描后所述第一平面镜和第二平面镜相对初始位置的旋转角度为a;所述h、a和s满足以下关系: s=hsin2a。
较佳地,所述计算机可形成多组光谱信息,该多组光谱信息为第一平面镜和第二平面镜连续旋转时所反射的光束所对应的光谱信息;所述计算机可根据该多组光谱信息获得三维光谱信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三明学院,未经三明学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711483660.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。