[发明专利]一种基于光学几何变换的矢量光测量装置有效
| 申请号： | 201810253913.2 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN108303180B | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 李朝晖;肖文达;杨继顺;刘志兵;高社成;熊松松 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00;G02B27/28;G02B5/30 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 陈伟斌 |
| 地址： | 510275 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及矢量光测量的技术领域，更具体地，涉及一种基于光学几何变换的矢量光测量装置。包括测量器件主体、光功率计；单模光纤在测量器件主体的一端，并可用光功率计直接读取单模光纤输出光功率。测量器主体是一个集成的光学自由曲面器件，它包括液晶偏振光栅、光学几何变换区、相位补偿聚焦区、光束整形区，并包含两个完全对称的部分。光学几何变换区，相位补偿聚焦区和光束整形区三者之间间隔完全相等。本发明所述器件具有低损耗、灵活性高、使用方便等优点，可被广泛应用于矢量光测量，编码通信等领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 几何 变换 矢量 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于光学几何变换的矢量光测量装置，其特征在于，包括测量器件主体（1），单模光纤（2）、光功率计（3），所述单模光纤（2）在测量器件主体（1）的一端，光功率计（3）可与单模光纤（2）相连，并可直接读取单模光纤输出光功率；所述测量器件主体（1）是一个集成光学器件，它包括液晶偏振光栅（1.1），光学几何变换区（1.2,1.3）、相位补偿聚焦区（1.4,1.5）、光束整形区（1.6,1.7）；光学几何变换区（1.2,1.3）、相位补偿聚焦区（1.4,1.5）、光束整形区（1.6,1.7）为等间距分布。
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- 本发明公开了一种强度‑时间积分型快速偏振成像方法及装置，该装置包括成像镜头、中空高速电机、高精度同轴编码器、偏振片、光强探测器、同步控制模块、数据采集及信号处理模块。本发明基于旋转偏振片偏振成像探测原理，将偏振片安装于中空高速电机上高速旋转，并采用高精度同轴编码器实时测量偏振片瞬时角度，实现对成像镜头收集的入射光高速、高精度线偏振调制；同时，采集光强探测器对连续旋转偏振片瞬态偏振调制后的强度进行时间积分，并利用集成于数据采集及信号处理模块中的数据反演方法和冗余复用算法反演入射光偏振参数，实现对目标场景快速、高精度偏振成像探测。本发明从原理上解决偏振片连续旋转引入的偏振调制强度时间积分效应。
- 一种波片支架装配设备-202222882608.4
- 罗伯新;杨燕龙;金泽辉 - 福建戴斯光电有限公司
- 2022-10-31 - 2023-06-30 - G01J4/00
- 一种波片支架装配设备，包括检偏器单元、设于检偏器单元正上方的激光器单元、安装台以及观察看板，安装台设于检偏器单元和激光器单元之间，检偏器单元与观察看板位于同一水平高度上。在本实用新型中，通过设置激光器单元、检偏器单元、观察板以及安装台，将波片支架放置在安装台上，由激光光源依次穿过波片支架、安装台以及检偏器单元后，激光光源照射在观察看板上，当观察看板上的光点出现消光时，说明波片光轴已经平行，从而使得波片的光轴与波片支架之间的平行度＜1°，使得该波片支架装配设备具有结构简单，操作方便，装配精度高的优点，从而有效提高波片支架的装配效率，适用于批量化生产时，对波片的快速装配。
- 一种同步重构矢量光模式偏振态和轨道角动量的装置及方法-202310270103.9
- 张子静;张延相;赵远;王泓洋 - 哈尔滨工业大学
- 2023-03-20 - 2023-06-23 - G01J4/00
- 一种同步重构矢量光模式偏振态和轨道角动量的装置及方法，属于光量子态调控与检测技术领域，本发明为解决现有单个装置中无法同步重构出光模式的偏振态和轨道角动量信息问题。本发明方案：连续激光器发射的连续光波经处理通过分束镜到达偏振分束镜；平行光经偏振分束镜被分为两束光，第一光束经空间光调制器、第二半波片、两级反射镜返回偏振分束镜反射产生相反符号轨道角动量阶数的垂直线偏振态；第二光束与第一光束共路反向传播，产生水平线偏振态，并入射到空间光调制器上产生正符号轨道角动量阶数的水平偏振态，两光束耦合传播；两光束经分束镜反射，经过第一四分之一波片产生任意偏振矢量光模式，实现同步重构矢量光模式偏振态和轨道角动量。
- 短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法-202211618397.1
- 温家星;张博;于明海;贺书凯;齐伟;张智猛;崔波 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 2022-12-15 - 2023-06-23 - G01J4/00
- 本发明涉及等离子物理核探测技术领域，尤其是提供一种短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法，其中测量方法包括：入射的X射线通过准直组件落入散射体上以产生散射光子，并通过半导体像素探测器探测出散射光子信号；利用半导体像素探测器获取散射光子能量的测量值E1，基于测量值E1计算出X射线光子的能量E0；利用半导体像素探测器获取散射光子像素位置；基于散射光子像素位置，然后通过数据拟合获取X射线的偏振方向和偏振度。其目的在于，用以解决现有偏振测量仪无法在未知X射线偏振方向的情况下，快速测量偏振度并实现对入射X射线能量测量的问题，实现对短脉冲X射线源偏振度和能谱的单发测量功能。
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