[发明专利]一种NAND闪存验证装置和验证系统有效
申请号: | 201711460196.2 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108231132B | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 蔡德智;王永成;韩飞 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G11C29/38 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 nand 闪存 验证 装置 系统 | ||
1.一种NAND闪存验证装置,其特征在于,所述装置分别与主机和NAND闪存连接,所述装置包括PMU芯片和ZYNQ系列芯片,所述ZYNQ系列芯片中集成ARM内核模块和FPGA逻辑模块,其中,
所述ARM内核模块与所述主机连接,所述ARM内核模块用于接收所述主机发送的配置参数和用户指令,所述ARM内核模块将所述配置参数分解为第一配置参数和第二配置参数,将所述用户指令解析为测试指令,以及根据所述用户指令产生测试数据,所述ARM内核模块将所述第一配置参数发送至所述PMU芯片,以及将所述第二配置参数、所述测试指令和所述测试数据发送至所述FPGA逻辑模块;
所述PMU芯片分别与所述ARM内核模块和所述NAND闪存连接,所述PMU芯片根据所述第一配置参数对所述NAND闪存进行供电以及对所述NAND闪存的电性能进行测试;
所述FPGA逻辑模块通过AXI传输通道与所述ARM内核模块连接,所述FPGA逻辑模块还与所述NAND闪存连接,所述FPGA逻辑模块根据所述第二配置参数对所述NAND闪存进行参数配置,以及根据所述测试指令和所述测试数据对所述NAND闪存进行测试。
2.根据权利要求1所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述ARM内核模块包括ARM核0和ARM核1,其中,
所述ARM核0用于运行LINUX系统、配置所述ZYNQ系列芯片以及与所述主机进行通信;
所述ARM核1用于将所述配置参数分解为第一配置参数和第二配置参数,将所述用户指令解析为测试指令,以及根据所述用户指令产生测试数据,并将所述第一配置参数发送至所述PMU芯片,以及将所述第二配置参数、所述测试指令和所述测试数据发送至所述FPGA逻辑模块。
3.根据权利要求2所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,还包括:
DDR缓存,所述DDR缓存与所述ARM内核模块连接,所述DDR缓存用于缓存所述LINUX系统数据和所述测试数据,在所述FPGA逻辑模块根据所述测试指令和所述测试数据对所述NAND闪存进行测试后,所述DDR缓存还用于缓存所述ARM内核模块从所述NAND闪存读取的第一数据。
4.根据权利要求3所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述ARM内核模块包括:
比对模块,所述比对模块与所述DDR缓存连接,所述比对模块用于对所述DDR缓存中的所述测试数据和所述第一数据进行比对,并当所述测试数据和所述第一数据一致时,判断对所述NAND闪存的验证通过。
5.根据权利要求3或4所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述DDR缓存的存储容量大于所述NAND闪存的存储容量。
6.根据权利要求1所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述ARM内核模块通过光纤或者网线与所述主机连接。
7.一种NAND闪存验证系统,其特征在于,包括主机、NAND闪存和权利要求1-6中任一项所述的NAND闪存验证装置,所述NAND闪存验证装置分别与所述主机和所述NAND闪存连接。
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