[发明专利]一种NAND闪存验证装置和验证系统有效

专利信息
申请号: 201711460196.2 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108231132B 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 蔡德智;王永成;韩飞 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G11C29/38
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 nand 闪存 验证 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种NAND闪存验证装置,其特征在于,所述装置分别与主机和NAND闪存连接,所述装置包括PMU芯片和ZYNQ系列芯片,所述ZYNQ系列芯片中集成ARM内核模块和FPGA逻辑模块,其中,

所述ARM内核模块与所述主机连接,所述ARM内核模块用于接收所述主机发送的配置参数和用户指令,所述ARM内核模块将所述配置参数分解为第一配置参数和第二配置参数,将所述用户指令解析为测试指令,以及根据所述用户指令产生测试数据,所述ARM内核模块将所述第一配置参数发送至所述PMU芯片,以及将所述第二配置参数、所述测试指令和所述测试数据发送至所述FPGA逻辑模块;

所述PMU芯片分别与所述ARM内核模块和所述NAND闪存连接,所述PMU芯片根据所述第一配置参数对所述NAND闪存进行供电以及对所述NAND闪存的电性能进行测试;

所述FPGA逻辑模块通过AXI传输通道与所述ARM内核模块连接,所述FPGA逻辑模块还与所述NAND闪存连接,所述FPGA逻辑模块根据所述第二配置参数对所述NAND闪存进行参数配置,以及根据所述测试指令和所述测试数据对所述NAND闪存进行测试。

2.根据权利要求1所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述ARM内核模块包括ARM核0和ARM核1,其中,

所述ARM核0用于运行LINUX系统、配置所述ZYNQ系列芯片以及与所述主机进行通信;

所述ARM核1用于将所述配置参数分解为第一配置参数和第二配置参数,将所述用户指令解析为测试指令,以及根据所述用户指令产生测试数据,并将所述第一配置参数发送至所述PMU芯片,以及将所述第二配置参数、所述测试指令和所述测试数据发送至所述FPGA逻辑模块。

3.根据权利要求2所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,还包括:

DDR缓存,所述DDR缓存与所述ARM内核模块连接,所述DDR缓存用于缓存所述LINUX系统数据和所述测试数据,在所述FPGA逻辑模块根据所述测试指令和所述测试数据对所述NAND闪存进行测试后,所述DDR缓存还用于缓存所述ARM内核模块从所述NAND闪存读取的第一数据。

4.根据权利要求3所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述ARM内核模块包括:

比对模块,所述比对模块与所述DDR缓存连接,所述比对模块用于对所述DDR缓存中的所述测试数据和所述第一数据进行比对,并当所述测试数据和所述第一数据一致时,判断对所述NAND闪存的验证通过。

5.根据权利要求3或4所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述DDR缓存的存储容量大于所述NAND闪存的存储容量。

6.根据权利要求1所述的NAND闪存验证装置,其特征在于,所述ARM内核模块通过光纤或者网线与所述主机连接。

7.一种NAND闪存验证系统,其特征在于,包括主机、NAND闪存和权利要求1-6中任一项所述的NAND闪存验证装置,所述NAND闪存验证装置分别与所述主机和所述NAND闪存连接。

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