[发明专利]一种量子点表面配体覆盖率的测定方法

权利要求书

1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，包括：

提供样品颗粒，所述样品颗粒的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的的有机配体，所述的有机配体选自脂肪羧酸配体、含氮的有机配体、含磷的有机配体或含巯基的有机配体；

测定所述样品颗粒中颗粒的平均粒径；

将样品颗粒置于X射线光电子能谱分析仪中，利用X射线光电子能谱分析仪，用AlKα线激发样品颗粒，用C1s谱线作电荷矫正，检测样品颗粒中各元素的含量，计算得到量子点表面配体覆盖率K_i;

其中，当量子点表面的有机配体为脂肪羧酸配体时，所述量子点中不含氧元素；当量子点表面的有机配体为含氮的有机配体时，所述量子点中不含氮元素；当量子点表面的有机配体为含磷的有机配体时，所述量子点中不含磷元素；当量子点表面的有机配体为含巯基的有机配体时，所述量子点中不含硫元素。

2.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，利用X射线光电子能谱分析仪测试样品颗粒中各元素的特征光谱，用软件计算得到各元素特征峰的积分面积，得到有机配体中特征元素的占样品颗粒质量比计算得到所述量子点表面配体覆盖率K_i，其中，当量子点表面的有机配体为脂肪羧酸配体时，所述有机配体中的特征元素为氧元素；当量子点表面的有机配体为含氮的有机配体时，所述有机配体中的特征元素为氮元素；当量子点表面的有机配体为含磷的有机配体时，所述有机配体中的特征元素为磷元素；当量子点表面的有机配体为含巯基的有机配体时，所述有机配体中的特征元素为硫元素。

3.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述量子点为一元量子点、二元量子点、三元量子点或四元量子点。

4.根据权利要求3量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，

所述一元量子点选自Au、Ag、Cu、Pt或C量子点；

所述二元量子点选自CdSe、ZnSe、PbSe、CdTe、ZnO、MgO、CeO₂、NiO、TiO₂、InP或CaF₂量子点；

所述三元量子点选自CdZnS、CdZnSe、CdSeS、PbSeS、ZnCdTe、CdS/ZnS、CdZnS/ZnS、CdZnSe/ZnSe、CdSeS/ CdSeS /CdS、CdSe/CdZnSe/CdZnSe/ZnSe、CdZnSe/CdZnSe/ZnSe、CdS/CdZnS/CdZnS/ZnS、NaYF₄或NaCdF₄量子点；

所述的四元量子点选自CdZnSeyS、CdSe/ZnS、CdZnSe/ZnS、CdSe/CdS/ZnS、CdSe/ZnSe/ZnS、CdZnSe/CdZnS/ZnS或InP/ZnS量子点。

5.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述含巯基的有机配体选自一硫醇、二硫醇、巯基醇、巯基胺或巯基酸；

所述脂肪羧酸配体为C原子数为8~18之间的脂肪酸；

所述含磷的有机配体选自烷基磷、烷基氧膦或烷基磷酸；

所述含氮的有机配体为碳原子数大于8的有机胺。

6.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，将样品颗粒置于X射线光电子能谱分析仪中之前，还包括对样品颗粒进行压制的步骤，压制压力为5-15MPa，压制5-15s。

7.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，将样品颗粒置于X射线光电子能谱分析仪中，利用X射线光电子能谱分析仪，用AlKα线激发样品，用C1s谱线作电荷矫正，检测样品颗粒中各元素的含量，计算得到量子点表面配体覆盖率的测定条件为：X射线功率为10~20KV*10~20mA，X射线光电子能谱分析仪的真空度为1~10*10^-9Mbar，初始测试范围为0-1200eV，精确测试范围为30-50eV。