[发明专利]器件模块的输出电流测试电路及测试方法在审
申请号: | 201711340332.4 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108169658A | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 索鑫 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张振军;吴敏 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件模块 输出电流 可调恒流源 测试电路 电压检测模块 电压检测结果 测试 测量成本 测量效率 电压参考 输入电流 步进式 增大的 检测 | ||
一种器件模块的输出电流测试电路及测试方法,所述输出电流测试电路包括:可调恒流源,所述可调恒流源连接所述器件模块,适于向所述器件模块提供步进式增大的输入电流;电压检测模块,适于对所述可调恒流源与所述器件模块之间的电压进行检测;其中,所述器件模块的输出电流值根据所述电压检测模块的电压检测结果以及输入所述器件模块的电流值确定,所述器件模块连接电压参考端。本发明方案可以提高测量效率,降低测量成本。
技术领域
本发明涉及电路控制技术领域,尤其涉及一种器件模块的输出电流测试电路及测试方法。
背景技术
在集成电路的制造和使用过程中,通常需要对流经集成电路中某一线路的电流进行测试。
在现有技术中,通常采用精密测量单元(Precision Measurement Unit,PMU)测试器件模块的输出电流。精密测量单元用于精确的直流参数测量,能够驱动电流进入集成电路测试电压,或者提供电压至集成电路测试电流。
然而,采用PMU测量器件模块的输出电流,存在测量时间长、成本高的问题。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供一种器件模块的输出电流测试电路及测试方法,可以提高测量效率,降低测量成本。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种器件模块的输出电流测试电路,包括:可调恒流源,所述可调恒流源连接所述器件模块,适于向所述器件模块提供步进式增大的输入电流;电压检测模块,适于对所述可调恒流源与所述器件模块之间的电压进行检测;其中,所述器件模块的输出电流值根据所述电压检测模块的电压检测结果以及输入所述器件模块的电流值确定,所述器件模块连接电压参考端。
可选的,所述器件模块的输出电流测试电路还包括:电压比较器,所述电压比较器适于比较所述电压检测模块的电压检测结果与预设电压阈值,当所述电压检测结果低于所述预设电压阈值时,输出逻辑低电平,当所述电压检测结果高于所述预设电压阈值时,输出逻辑高电平;其中,当所述电压比较器从输出逻辑低电平切换为输出逻辑高电平时的所述可调恒流源的输入电流值为所述器件模块的输出电流值。
可选的,所述可调恒流源以及所述电压比较器是由ATE测试仪提供的。
可选的,所述可调恒流源包括桥式负载电流电路,适于将供给至所述可调恒流源的电流导向至所述器件模块,作为所述输入电流。
可选的,所述器件模块接地。
可选的,所述器件模块为充放电器件。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种器件模块的输出电流测试方法,包括:向所述器件模块提供步进式增大的输入电流;检测所述输入电流的输入端与所述器件模块之间的电压,以得到电压检测结果;根据所述电压检测结果以及输入所述器件模块的电流值,确定所述器件模块的输出电流值;其中,所述器件模块连接电压参考端。
可选的,根据所述电压检测结果以及输入所述器件模块的电流值,确定所述器件模块的输出电流值包括:比较所述电压检测结果与预设电压阈值,当所述电压检测结果低于所述预设电压阈值时,输出逻辑低电平,当所述电压检测结果高于所述预设电压阈值时,输出逻辑高电平;当从输出逻辑低电平切换为输出逻辑高电平时,确定输入所述器件模块的电流值,并作为所述器件模块的输出电流值。
可选的,向所述器件模块提供步进式增大的输入电流包括:采用桥式负载电流电路将供给至所述可调恒流源的电流导向至所述器件模块,作为所述输入电流。
可选的,所述器件模块接地。
可选的,所述器件模块为充放电器件。
与现有技术相比,本发明实施例的技术方案具有以下有益效果:
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