[发明专利]显示基板及其制造方法、显示装置有效
申请号: | 201711325127.0 | 申请日: | 2017-12-13 |
公开(公告)号: | CN108054103B | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 胡迎宾;袁广才;赵策;丁远奎;程磊磊;李伟;张扬;马睿 | 申请(专利权)人: | 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/44 | 分类号: | H01L21/44;H01L21/34;H01L29/786;H01L29/417 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 滕一斌 |
地址: | 230012 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 及其 制造 方法 显示装置 | ||
1.一种显示基板的制造方法,其特征在于,所述显示基板为背沟道刻蚀BCE结构显示基板;所述方法包括:
在衬底基板上依次形成栅极、栅绝缘层和半导体层;
在形成有所述半导体层的衬底基板上形成导电材质层;
对所述导电材质层进行刻蚀,得到源漏极层,其中,所述导电材质层上与所述半导体层接触的部位通过干法刻蚀工艺刻蚀,所述半导体层上各个位置的厚度相等,且所述半导体层上各个位置的导电特性无差异;
其中,所述导电材质层包括三个子导电材质层,所述三个子导电材质层按照靠近所述半导体层到远离所述半导体层的形成材料依次为金属钼、金属铝和金属钼,按照靠近所述半导体层到远离所述半导体层的顺序,所述三个子导电材质层各自厚度的取值范围分别为和
所述对所述导电材质层进行刻蚀,得到源漏极层,其中,所述导电材质层上与所述半导体层接触的部位通过干法刻蚀工艺刻蚀,包括:
通过湿法刻蚀工艺对所述导电材质层中,未与所述半导体层接触的子导电材质层进行刻蚀,且对与所述半导体层接触的子导电材质层进行过刻,但不刻透所述导电材质层;
通过干法刻蚀工艺对所述导电材质层中,与所述半导体层接触的子导电材质层进行刻蚀,并刻透所述导电材质层,得到源漏极层。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述干法刻蚀工艺的刻蚀气体为氟化硫气体和氧气的混合气体;或者,
所述干法刻蚀工艺的刻蚀气体为氟化硫气体、氧气和氦气的混合气体。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对所述导电材质层进行刻蚀,得到源漏极层,包括:
通过构图工艺对所述导电材质层进行处理,得到源漏极层,所述构图工艺包括光刻胶涂覆、曝光、显影、刻蚀和光刻胶剥离。
4.一种采用权利要求1至3任一所述的方法制造的显示基板,其特征在于,所述显示基板包括:衬底基板,以及,依次设置在所述衬底基板上的栅极、栅绝缘层、半导体层和源漏极层,所述半导体层上各个位置的厚度相等,且所述半导体层上各个位置的导电特性无差异;
其中,所述源漏极层包括三个子层,所述三个子层按照靠近所述半导体层到远离所述半导体层的形成材料依次为金属钼、金属铝和金属钼,按照靠近所述半导体层到远离所述半导体层的顺序,所述三个子层各自厚度的取值范围分别为和
5.一种显示装置,其特征在于,所述显示装置包括权利要求4所述的显示基板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造