[发明专利]基于纳米孔的分子检测与测序

权利要求书

1.一种用于鉴定分子或其部分的方法，该方法包括：

(a)提供在邻近或接近电极设置的膜中包含至少一个纳米孔的芯片，其中该电极被适配为检测通过该纳米孔的电流；

(b)将分子或其部分插入该纳米孔；

(c)改变跨纳米孔和/或跨膜施加的电压；和

(d)测量多个电压下的电流以鉴定所述分子或其部分。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述分子为聚合物分子，并且当该聚合物分子穿过或驻留于所述纳米孔中时，该聚合物分子的部分得到鉴定。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述聚合物分子为核酸，并且所述聚合物分子的部分为核酸或成组的核酸。

4.如权利要求2所述的方法，其中所述聚合物分子为多肽，并且所述多肽的部分为氨基酸或成组的氨基酸。

5.如权利要求2所述的方法，其中借助于一个或多个减速物分子减慢所述聚合物分子通过纳米孔的速率，并且其中当所述聚合物分子的穿行速度减慢时，所述聚合物分子的部分得到鉴定。

6.如权利要求5所述的方法，其中单个减速物分子包含核糖核酸。

7.如权利要求2所述的方法，其中所述聚合物分子被捕获在纳米孔中。

8.如权利要求7所述的方法，其中使所述聚合物分子往复地穿过纳米孔以多次鉴定所述聚合物分子的至少一些部分。

9.如权利要求7所述的方法，其中所述聚合物分子为单链核酸分子，并且所述分子被在纳米孔任意一侧形成的大体积结构捕获在纳米孔中。

10.如权利要求2所述的方法，其中以沿着所述聚合物分子长度的顺序鉴定所述聚合物分子的部分。