[发明专利]一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法

说明书

本发明属于无损检测技术领域，涉及一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法。评价的步骤如下：获取R区缺陷检测信息；R区缺陷检出的判别方法；R区缺陷大小加权；R区缺陷深度加权；计算R区缺陷等效漏检数计算R区缺陷大小检出概率计算R区缺陷深度确定概率本发明提出了一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法，能考虑超声对R区缺陷的检出概率因素和R区缺陷重复性问题，能给出有关所选用的超声检测仪器设备及检测人员等对R区缺陷检出概率定量的信息，能给出判断不同的超声检测法的R区缺陷检出概率，能给出复合材料结构R区不同R区缺陷的漏检对超声检出概率的影响程度，从而提高了超声检测结果的可靠性和准确性。

技术领域

本发明属于无损检测技术领域，涉及一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法。

背景技术

超声是一种非常重要的复合材料结构R区无损检测方法，目前已广泛用于复合材料的无损检测。通常为了评价超声检测方法、检测工艺、检测仪器设备、检测人员等对R区缺陷的综合检出能力和检测的可靠性及检测准确性，在技术上，都需要利用设计制备的含有不同模拟R区缺陷的对比试块，检验超声仪器设备及人员对R区缺陷的检出能力。目前是采用灵敏度调节的方法确定所选用的超声仪器设备是否满足被检测复合材料结构R区的R区缺陷验收要求。其显著的不足是：1)没有考虑超声对R区缺陷的检出概率因素和R区缺陷重复性问题；2)没有给出有关所选用的超声检测仪器设备及检测人员等对R区缺陷检出概率定量的信息；3)没有给出判断不同的超声检测法的R区缺陷检出概率；4)没有给出不同R区缺陷的漏检对超声检出概率的影响程度；从而影响超声检测结果的可靠性和准确性。

发明内容

本发明的目的是：提出一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法，以便考虑超声对R区缺陷的检出概率因素和R区缺陷重复性问题，给出有关所选用的超声检测仪器设备及检测人员等对R区缺陷检出概率定量的信息，给出判断不同的超声检测法的R区缺陷检出概率，给出不同R区缺陷的漏检对超声检出概率的影响程度，从而提高超声检测结果的可靠性和准确性。

本发明的技术方案是：一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法，所用的超声检测系统由超声换能器1、超声A显示单元2和超声C扫描单元3组成，在R区概率试块(4)内部设置有缺陷(5)，评价的步骤如下：

1、获取R区缺陷检测信息：利用超声检测系统分别对R区概率试块4进行超声A扫描检测和超声C扫描检测，并记录相应的超声A扫描检测结果和超声C扫描检测结果，包括超声A扫描检出R区缺陷在其轴线方向的最大长度和超声A扫描检出R区缺陷的深度超声C扫描检出R区缺陷其轴线方向的最大长度其中：

i为检出R区缺陷的序号，i＝1、2、3、...n；

表示超声A扫描检出的第i个R区缺陷在其轴线方向的最大长度，即R区缺陷长轴方向的尺寸；

表示超声C扫描检出的第i个R区缺陷在其轴线方向的最大长度，即R区缺陷长轴方向的尺寸；

2、R区缺陷检出的判别方法：

2.1、超声A扫描检出R区缺陷的判别：

2.1.1、当超声A扫描检出的第i个R区缺陷大小满足(1)式，判别为检出该R区缺陷，否则，判别为漏检；

式中：

为第i个检出R区缺陷在R区概率试块4中对应的长轴方向的实际尺寸；

为第i个超声A扫描检出R区缺陷4在长轴方向的尺寸允差；

的选择方法为下述方法之一：

绝对选择方法：在1mm～2mm之间选择；

相对选择方法：