[发明专利]一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法有效

申请号：	201711290134.1	申请日：	2017-12-07
公开（公告）号：	CN108362780B	公开（公告）日：	2020-09-22
发明（设计）人：	刘菲菲;刘松平;傅天航;李治应;李乐刚	申请（专利权）人：	中航复合材料有限责任公司
主分类号：	G01N29/30	分类号：	G01N29/30;G01N29/04
代理公司：	中国航空专利中心 11008	代理人：	梁瑞林
地址：	101300 北京市***	国省代码：	北京;11
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摘要：
搜索关键词：	一种评价复合材料结构缺陷超声检出概率方法
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【权利要求书】：

1.一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法，所用的超声检测系统由超声换能器(1)、超声A显示单元(2)和超声C扫描单元(3)组成，在R区概率试块(4)内部设置有缺陷(5)；其特征在于，评价的步骤如下：

1.1、获取R区缺陷检测信息：利用超声检测系统分别对R区概率试块(4)进行超声A扫描检测和超声C扫描检测，并记录相应的超声A扫描检测结果和超声C扫描检测结果，包括超声A扫描检出R区缺陷在其轴线方向的最大长度和超声A扫描检出R区缺陷的深度超声C扫描检出R区缺陷在其轴线方向的大小其中：

i为检出R区缺陷的序号，i＝1、2、3、...n；

表示超声A扫描检出的第i个R区缺陷在其轴线方向的最大长度，即R区缺陷长轴方向的尺寸；

表示超声C扫描检出的第i个R区缺陷在其轴线方向的最大长度，即R区缺陷长轴方向的尺寸；

1.2、R区缺陷检出的判别方法：

1.2.1、超声A扫描检出R区缺陷的判别：

1.2.1.1、当超声A扫描检出的第i个R区缺陷大小满足(1)式，判别为检出该R区缺陷，否则，判别为漏检；

式中：

为第i个检出R区缺陷在R区概率试块(4)中对应的长轴方向的实际尺寸；

为第i个超声A扫描检出R区缺陷(4)在长轴方向的尺寸允差；

的选择方法为下述方法之一：

绝对选择方法：在1mm～2mm之间选择；

相对选择方法：

1.2.1.2、当超声A扫描检出的第i个R区缺陷的深度满足(2)式，判别为能确定该检出R区缺陷深度否则，判别为不能确定该检出R区缺陷深度位置；

式中：

为对应第i个超声A扫描检出R区缺陷在R区概率试块(4)中的实际深度，

h_p为R区概率试块(4)中单层复合材料铺层的厚度；

1.2.2、超声C扫描检出R区缺陷的判别：

当超声C扫描检出的第i个R区缺陷的大小满足(3)式，判别为检出该R区缺陷；否则，判别为漏检；

式中：

为第i个超声C扫描检出R区缺陷在长轴方向的尺寸允差；

的选择方法为下述方法之一：

绝对选择方法：在1.0mm～2.0mm之间选择；

相对选择方法：

1.3、R区缺陷大小加权：根据被检测复合材料结构R区的验收等级和材料工艺结构特点，对R区概率试块(4)中漏检R区缺陷进行加权，加权系数为k_j，j＝1，2，3，具体方法为：φ₁、φ₂、φ₃为R区概率试块(4)中的3种不同尺寸大小的R区缺陷，φ₁＜φ₂＜φ₃；对应R区缺陷尺寸为φ₁的加权系数k₁＝1.0，对应R区缺陷尺寸为φ₂的加权系数k₂＝2.0，对应R区缺陷尺寸为φ₃的加权系数k₃＝3.0；

1.4、R区缺陷深度加权：定义h₁、h₂、h₃为R区概率试块(4)中的3种不同深度的R区缺陷，其中：h₁对应的R区缺陷深度位于R区概率试块(4)表面第1个～2个铺层之间，h₂对应的R区缺陷深度位于R区概率试块(4)中间铺层处，h₃对应的R区缺陷深度位于R区概率试块(4)底面第1个～第2个铺层之间；R区缺陷深度加权系数为m_l，l＝1，2，3；不同深度R区缺陷加权系数为ml的计算方法为：深度为h₁的R区缺陷对应的深度加权系数m₁＝1.0，深度为h₂的R区缺陷对应的m₂＝2.0，深度为h₃的R区缺陷对应的m₃＝3.0；