[发明专利]一种氧化镓X射线探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201711286493.X 申请日: 2017-12-07
公开(公告)号: CN108039391A 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 矫淑杰;李少方;张峻华;高世勇 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: H01L31/115 分类号: H01L31/115;H01L31/032;H01L31/036;H01L31/18
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 张金珠
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 氧化 射线 探测器 及其 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种氧化镓X射线探测器及其制备方法,属于半导体器件制造领域。本发明要解决以硅、锗、CdTe和CdZnTe等半导体作为x射线探测器,由于材料带隙较小,对环境温度敏感、抗辐射特性弱,限制了在太空领域的应用的技术问题。本发明探测器以氧化镓单晶为基体,所述氧化镓单晶的上表面设置有接触电极和Pt/Au工作电极,下表面设置有ITO/Ti/Au工作电极,Pt/Au工作电极的顶部和ITO/Pt/Au工作电极的底部与外接电路通过连接引线连接;通过沉积制备。本发明的氧化镓x射线探测器可在室温工作,也可耐受高压,并在严苛环境下工作。

技术领域

本发明属于半导体器件制造领域;具体涉及一种氧化镓X射线探测器及其制备方法。

背景技术

X射线探测器主要应用于外太空、核电站等苛刻环境中,探测器需要高灵敏度、小型化、抗辐射能力强等特性。传统气体探测器是通过气体离化产生探测信号所需能量约为30eV,对弱信号的检测灵敏度低。气体探测器密度小,体积大,不利于器件的小型化,也不利于集成为大规模阵列器件,并且不能室温工作,无法满足日益增长的应用需求。半导体x射线探测器由于带隙能量小于10eV,因此产生电子空穴对的辐射能量也小于10eV,相对气体探测器而言对弱信号检测灵敏度高,半导体单晶材料厚度在几个毫米范围内,在器件小型化方面具有优势;半导体探测器还可制成探测阵列。

发展较早的硅、锗、CdTe和CdZnTe等半导体作为x射线探测器,由于材料带隙较小,对环境温度敏感、抗辐射特性弱,限制了在太空领域的应用。

发明内容

本发明要解决以硅、锗作为x射线探测器,由于材料带隙较小,对环境温度敏感、抗辐射特性弱,限制了在太空领域的应用的技术问题;而提供了一种氧化镓X射线探测器及其制备方法。

为解决上述技术问题,本发明的一种氧化镓X射线探测器以氧化镓单晶为基体,所述氧化镓单晶的上表面设置有接触电极和Pt/Au工作电极,下表面设置有ITO/Ti/Au工作电极,Pt/Au工作电极的顶部和ITO/Ti/Au工作电极的底部与外接电路通过连接引线连接,接触电极接地;

所述接触电极和Pt/Au工作电极的横截面呈“回”字形,且Pt/Au工作电极设置在接触电极内,从下至上,接触电极和Pt/Au工作电极是由沉积在氧化镓单晶上表面的铂层和金层构成;

从上至下,ITO/Ti/Au工作电极是由依次沉积在氧化镓单晶的下表面的ITO薄膜、钛层和金层构成。

进一步地限定,所述氧化镓单晶体基体横截面为边长为2-5mm的正方形,氧化镓单晶的厚度为300~1000μm。

进一步地限定,所述Pt/Au工作电极中铂层的厚度为20~100nm,金层的厚度为200~500nm。

进一步地限定,所述ITO/Ti/Au工作电极中ITO薄膜的厚度为10~100nm,钛层的厚度为20~100nm,金层的厚度为200~500nm。

本发明中上述氧化镓X射线探测器的制备方法是按下述步骤进行的:

步骤一、在氧气气氛下,将氧化镓单晶退火,依次在丙酮、乙醇中超声处理后用去离子水冲洗,用氮气吹干;

步骤二、然后在氧化镓单晶的一侧依次沉积ITO薄膜(氧化铟锡导电薄膜),再在真空状态下退火;

步骤三、然后在氧化镓单晶上,与ITO薄膜相对的一侧用掩膜版覆盖,再依次沉积铂层和金层,形成接触电极和Pt/Au工作电极;

步骤四、然后在ITO薄膜之上沉积钛层和金层,形成ITO/Ti/Au工作电极;

步骤五、然后在氮气保护下退火;

步骤六、将接触电极接地,将Pt/Au工作电极和ITO/Ti/Au工作电极与外接电路通过连接引线连接,即获得氧化镓X射线探测器。

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