[发明专利]一种集成运放开环幅频特性测试系统

说明书

本发明公开了一种集成运放开环幅频特性测试系统。待测集成运放的负输入端A、电阻R1的一端、电阻R2的一端、低噪声前置放大器的负输入端C连接在一起，电阻R1的另一端连接数据采集卡的通道0，电阻R2的另一端、待测集成运放的放大输出信号Vo1、数据采集卡的通道1连接在一起，待测集成运放的正输入端B接地，低噪声前置放大器的正输入端D接地，低噪声前置放大器的输出端Vo2连接数据采集卡的通道2，数据采集卡连接计算机，数据采集卡采集的数据提供给计算机，由计算机中的信号互相关分析处理软件进行分析得到得待测集成运放的开环幅频特性曲线。本发明的有益效果是测试装置结构简单，精度高，测试范围广，读数直观。

技术领域

本发明属于放大器幅频特性测试技术领域，涉及一种集成运放开环幅频特性测试系统。

背景技术

在工程技术、科学研究和生产实践的各种活动中，集成运放开环幅频特性的测试具有非常重要的意义。根据开环增益的定义，最直接的测量方法是在集成运放开环的条件下，直接测量集成运放输入端的输入电压Vi和放大后的输出电压Vo。开环增益为：Vo/Vi。由于Vi在uV数量级，用一般的毫伏表无法测量，用互相关法能轻松的进行测量。由于集成运放开环时，由于放大倍数很大，很可能使工作状态不稳定，失调电压、失调电流以及漂移等都要考虑。所以在闭环条件下，进行开环增益的测量，可以消除开环测量时的诸多缺点。

随着科学技术的不断发展以及微弱信号检测技术内容的更新，传统仪器日益暴露出一些缺陷和不足，这些仪器已不能满足现代电子测量的要求，严重影响教学和科研。为了提高电子测量的水平和方法，把虚拟仪器引入集成运放开环幅频特性检测技术当中,并应用到现代电子测量学科解决具体电子电路测量问题。使用虚拟仪器不但可以节约大量仪器设备的经费投入，而且能够提高教学和科研的质量与效率，实现普通仪器无法直接测量或无法精确测量的内容。本发明运用虚拟仪器技术，采用软件互相关检测法测量集成运放的开环幅频特性，具有结构简单，成本低廉、测试自动化程度高等优点。

发明内容

本发明的目的在于提供一种集成运放开环幅频特性测试系统。

本发明所采用的技术方案是包括待测集成运放，待测集成运放的负输入端A、电阻R1的一端、电阻R2的一端、低噪声前置放大器的负输入端C连接在一起，电阻R1的另一端连接数据采集卡的通道0，电阻R2的另一端、待测集成运放的放大输出信号Vo1、数据采集卡的通道1连接在一起，待测集成运放的正输入端B接地，低噪声前置放大器的正输入端D接地，低噪声前置放大器的输出端Vo2连接数据采集卡的通道2，数据采集卡连接计算机，数据采集卡采集的数据提供给计算机，由计算机中的信号互相关分析处理软件进行分析得到得待测集成运放的开环幅频特性曲线。

进一步，待测集成运放的正输入端B接直流电源的地端，低噪声前置放大器的正输入端D接直流电源的地端，直流电源连接到待测集成运放和低噪声前置放大器。

进一步，R1取1k，R2取10k。

进一步，低噪声前置放大器采样多级放大器级联，具有多个量程的放大倍数，低噪声前置放大器的放大倍数为1～100000倍，低噪声前置放大器的放大倍数通过开关来选择控制。

进一步，信号互相关分析处理软件由虚拟扫频信号发生器模块、DAQ输出和采集模块、互相关分析模块、幅频特性运算和输出信号模块组成；