[发明专利]一种改善电磁兼容性能的方法在审
申请号: | 201711240268.2 | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN107959485A | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 田立良 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | H03K5/1252 | 分类号: | H03K5/1252 |
代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人: | 姜明 |
地址: | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 电磁 兼容 性能 方法 | ||
1.一种改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:对时钟缓存器Clock Buffer芯片的输入输出电路进行改造,将其供电电源经降能、滤波处理后接入时钟缓存器Clock Buffer芯片,将其输入/输出信号分别经RC滤波电路处理后输入/输出,并将其空pin连接电阻到地,使空pin的能量传递到大地中,从而避免电磁信号向空间的辐射;同时,将时钟缓存器Clock Buffer芯片的参考电源对应接口部分挖空,进而切断了耦合路径,使时钟缓存器Clock Buffer产生的能量不能从骚扰源传递到敏感源,从而从根本上防止电磁兼容问题的产生。
2.根据权利要求1所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述时钟缓存器ClockBuffer芯片的供电电源P2V5_AUX通过衰减器和电容滤波电路进行降能、滤波处理后接入时钟缓存器Clock Buffer芯片的VDD脚;将输入信号CLK_50M_R接入时钟缓存器Clock Buffer芯片的CLK脚,输出信号CLK_50M_0,CLK_50M_1和CLK_50M_2分别接入时钟缓存器Clock Buffer芯片的Q1脚,Q2脚和Q3脚,输入信号CLK_50M_R以及输出信号CLK_50M_0,CLK_50M_1和CLK_50M_2分别连接RC滤波电路;时钟缓存器Clock Buffer芯片的Q4脚连接电阻到地,GND脚接地。
3.根据权利要求2所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述衰减器为磁珠R6,所述供电电源P2V5_AUX串联磁珠R6,用于降低其输入能量,同时消除存在于电路中的RF噪声;所述供电电源P2V5_AUX串联磁珠R6的输出端与地之间分别连接电容C5,C6和C7,随后供电电源P2V5_AUX接入VDD脚,电容C5,C6和C7并联另一端接地。
4.根据权利要求3所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述供电电源P2V5_AUX先后串联磁珠R6和电阻R5后接入时钟缓存器Clock Buffer芯片的OE脚。
5.根据权利要求3所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述磁珠R6的阻值为1800Ω,所述电容C5,C6和C7的电容量分别为0.1uf,0.1uf和1uf。
6.根据权利要求4所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述电阻R5为4.7k电阻。
7.根据权利要求2所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述输入信号CLK_50M_R以及输出信号CLK_50M_0,CLK_50M_1和CLK_50M_2分别连接电阻R1,R2,R3和R4,电阻R1,R2,R3和R4的输入端与地之间分别连接电容C1,C2,C3和C4。
8.根据权利要求7所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述电阻R1,R2,R3,R4的阻值为22Ω~33Ω,所述电容C1,C2,C3和C4的电容量为10pf~18pf。
9.根据权利要求7或8所述的改善电磁兼容性能的方法,其特征在于:所述电阻R1,R2,R3,R4的阻值为22Ω,所述电容C1,C2,C3和C4的电容量为10pf,当出现辐射问题时,将电阻和电容调大,电阻R1,R2,R3,R4的阻值最大不超过33Ω,电容C1,C2,C3和C4的电容量最大不超过18pf。
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