[发明专利]划痕检测方法、装置和电子设备在审

专利信息
申请号: 201711207535.6 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN107993223A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 班永杰;陈茁;王剑龙;刘文文;闫秀英;刘金玉;马立 申请(专利权)人: 歌尔股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/00
代理公司: 北京太合九思知识产权代理有限公司11610 代理人: 刘戈
地址: 261031 山东省潍坊*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 划痕 检测 方法 装置 电子设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及工件质量检测技术领域,尤其涉及一种划痕检测方法、装置和电子设备。

背景技术

如今,随着工业的发展,人们对于工业制造的工件的质量要求越来越高,其中,查看工件的外观是否完好是反映工件质量高低最直观的方式。因此,从生产制造角度来讲,在生产工件后对其外观的检测至关重要,尤其是检测所生产工件表面是否有划痕。

现有的划痕检测方法主要为:检测人员人工地将待检测工件放置在显微镜下,进而进行人工检测,显微镜可以对外观的破损进行放大,进而方便检测人员进行观察以达到划痕检测目的。但是,以人工的方式进行划痕检测,检测效率极低。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例提供一种划痕检测方法、装置和电子设备,用以提高划痕检测效率。

第一方面,本发明实施例提供了一种划痕检测方法,包括:

获取待检测工件的原始图像以及与所述待检测工件对应的二值化阈值;

根据所述二值化阈值对所述原始图像进行二值化处理;

对二值化处理后的图像进行骨架提取处理;

确定骨架提取处理后的图像中是否含有划痕。

第二方面,本发明实施例提供了一种划痕检测装置,包括:

获取模块,用于获取待检测工件的原始图像以及与所述待检测工件对应的二值化阈值;

第一处理模块,用于根据所述二值化阈值对所述原始图像进行二值化处理;

第二处理模块,用于对二值化处理后的图像进行骨架提取处理;

确定模块,用于确定骨架提取处理后的图像中是否含有划痕。

第三方面,本发明实施例提供了一种电子设备,包括存储器和处理器;其中,所述存储器用于存储一条或多条计算机指令,其中,所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行时实现本发明实施例第一方面提供的划痕检测方法。

第四方面,本发明实施例还提供了一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,所述计算机程序使计算机执行时实现发明实施例第一方面提供的划痕检测方法。

本发明实施例所提供的一种划痕检测方法、装置和电子设备,通过图像识别的方式对待检测的工件进行划痕检测。对待检测工件进行拍照以得到原始图像,将原始图像进行二值化处理后接着进行骨架提取处理,以便在原始图像中存在划痕特征时,能够突出划痕,从而可以根据骨架提取处理后的图像确定待检测工件是否有划痕。本实施例中,二值化处理的阈值与待测工件对应,该阈值可以一定程度上将原始图像中可能存在的划痕与背景元素分割,通过提取骨架可以进一步突出划痕,以方便准确识别出图像中是否包含有划痕特征,从而实现工件划痕的自动化检测。通过该方案,可以自动化地、准确地实现对工件表面划痕的检测,提高了检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的划痕检测方法的流程图;

图2(a)为结构元素矩阵的可选矩阵形式;

图2(b)为结构元素矩阵的另一可选矩阵形式;

图2(c)为结构元素矩阵的再一可选矩阵形式;

图2(d)为结构元素矩阵的又一可选矩阵形式;

图3为图1所示实施例中步骤S104的可选实施方式的流程图;

图4(a)为预设二值化值对应的连续区域的可选示意图;

图4(b)为预设二值化值对应的连续区域的另一可选示意图;

图5为图1所示实施例中步骤S101的可选实施方式的流程图;

图6为本发明实施例提供的划痕检测装置的结构示意图;

图7为本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

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