[发明专利]划痕检测方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种划痕检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测工件的原始图像以及与所述待检测工件对应的二值化阈值；

根据所述二值化阈值对所述原始图像进行二值化处理；

对二值化处理后的图像进行骨架提取处理；

确定骨架提取处理后的图像中是否含有划痕。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对二值化处理后的图像进行骨架提取处理，包括：

根据以下公式对所述二值化处理后的图像进行骨架提取处理：

S(A)=∪k=0KSk(A),]]>

其中，A为所述二值化处理后的图像所对应的像素矩阵，S(A)为所述骨架提取处理后的图像所对应的像素矩阵；Θ为腐蚀运算符，为开运算的运算符；k为腐蚀次数变量；B为用于腐蚀、开运算处理的结构元素矩阵；K为将所述二值化处理后的图像所对应的像素矩阵腐蚀为空集时的腐蚀次数，∪为并集运算符。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述结构元素矩阵B中预设二值化值的位置分布呈现L型或十字型。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述确定骨架提取处理后的图像中是否含有划痕，包括：

确定所述骨架提取处理后的图像中是否存在预设二值化值所对应的连续区域；

若存在所述连续区域并且所述连续区域的尺寸大于预设值，则确定所述骨架提取处理后的图像中有划痕；

若不存在所述连续区域，则确定所述骨架提取处理后的图像中无划痕。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取与所述待检测工件对应的二值化阈值，包括：

将所述原始图像转为灰度图像；

分别针对所述灰度图像中的任一灰度值，计算小于所述任一灰度值的第一类像素点的灰度均值和方差，以及计算大于所述任一灰度值的第二类像素点的灰度均值和方差；

根据所述第一类像素点的数量、第二类像素点的数量以及所述灰度图像中像素的总数量，分别计算所述第一类像素点和所述第二类像素点的概率分布；

根据如下函数计算所述任一灰度值对应的阈值参量：

其中，0<λ<1，ψ为所述任一灰度值的阈值参量，μ₁为所述第一类像素点的灰度均值，μ₂为所述第二类像素点的灰度均值，σ₁²为所述第一类像素点的方差，σ₂²为所述第二类像素点的方差，p₁为所述第一类像素点的概率分布，p₂为所述第二类像素点的概率分布；

确定各灰度值的阈值参量中最大值对应的灰度值为所述二值化阈值。

6.一种划痕检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测工件的原始图像以及与所述待检测工件对应的二值化阈值；

第一处理模块，用于根据所述二值化阈值对所述原始图像进行二值化处理；

第二处理模块，用于对二值化处理后的图像进行骨架提取处理；

确定模块，用于确定骨架提取处理后的图像中是否含有划痕。

7.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器；其中，

所述存储器用于存储一条或多条计算机指令，其中，所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的划痕检测方法。

8.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机程序使计算机执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的划痕检测方法。