[发明专利]一种逆阻型氮化镓器件有效
申请号: | 201711119005.6 | 申请日: | 2017-11-14 |
公开(公告)号: | CN107910364B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
发明(设计)人: | 陈万军;崔兴涛;施宜军;李茂林;刘杰;刘超;周琦;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院 |
主分类号: | H01L29/40 | 分类号: | H01L29/40;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/47;H01L29/778 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 孙一峰 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 逆阻型 氮化 器件 | ||
1.一种逆阻型氮化镓器件,包括衬底(1)、位于衬底上表面的GaN缓冲层(2)和位于GaN缓冲层(2)上表面的InAlN势垒层(3),所述GaN缓冲层(2)和InAlN势垒层(3)形成异质结;所述InAlN势垒层(3)两侧上表面具有与其形成肖特基接触的源极金属(4)和漏极金属(5);所述漏极金属(5)的功函数大于所述源极金属(4)的功函数;所述漏极金属(5)采用功函数大于5eV的金属或合金,源极金属(4)采用功函数小于5eV的金属或合金;漏极金属(5)在绝缘栅介质(6)上向凹槽栅结构(8)方向延长形成漏极场板;在靠近源极(4)一侧有嵌入势垒层(3)的凹槽栅结构(8);所述凹槽栅结构(8)由栅介质(6)、栅极金属(7)构成。
2.根据权利要求1所述的逆阻型氮化镓器件,其特征在于,所述衬底(1)采用的材料是硅、蓝宝石、碳化硅或氮化镓中的一种。
3.根据权利要求2所述的逆阻型氮化镓器件,其特征在于,所述势垒层(3)为III族元素In、Al、N形成的三元化合物。
4.根据权利要求3所述的逆阻型氮化镓器件,其特征在于,所述绝缘栅介质(6)采用的材料为SiO2、Si3N4、AlN、Al2O3、MgO、Sc2O3或HfO2中的一种。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院,未经电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711119005.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类