[发明专利]基于双目视觉系统的液晶屏缺陷与灰尘区分法及检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及视觉检测技术领域，特别是涉及一种基于双目视觉系统的液晶屏缺陷与灰尘区分法及检测装置。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)液晶屏典型组成由上至下依次为TP(Touch Panel，触摸屏)玻璃、上偏光片、彩色滤光片、液晶层、TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板、下偏光片以及背光源。随着LCD技术的发展，它以分辨率高、体积小、重量轻、无辐射、平板化和功耗低等特点，迅速成为显示市场的主角，从手机到便携式游戏机、从工业设备的人工操作平台到银行自助设备ATM(Automatic Teller Machine)等诸多领域，LCD无所不在。因此，对于LCD液晶屏的质量检测变得尤为重要。

LCD液晶屏的工艺流程及质量检测主要包括：panel切割、贴片、COG/FOG、点胶、组背光；其中主要的质量检测包括panel切割后、贴片后和组背光后的点灯检查和外观检查。

目前，现有技术中已经可以实现对各阶段自动点灯的质量检测，但是，现有技术中的自动检测装置无法实现TP层异物是否为检测时未滤除的表面灰尘。尤其是在TP全贴合后工艺中，由于工艺的组装过程中引入缺陷，针对TP层和液晶层中间的异物需要检测，目前传统的区分方式与在液晶层表面增加光源，使表面灰尘成像与内部真实缺陷进行对比，但是TP层异物在表面光源下也能成像，与灰尘难以区分，检测过程中造成TP异物漏检。因此对TP层异物的检测在LCD检测设备中一直处于空白状态。

如图1所示，其为一种液晶屏10的层级示意图。液晶屏10包括依次贴合的盖板11、上偏光片12、液晶层13、下偏光片14、背光源15。位于盖板11表面的微小物体定义为表面灰尘16，位于盖板11与上偏光片12之间的微小物体定义为异物缺陷17。异物缺陷17的成因为，由于液晶模组10的组装在贴合盖板11时，落入盖板11与上偏光片12之间的异物，另外也有一小部分是盖板11来料存在于盖板内的异物。

异物缺陷17通常会存在漏检，漏检原因为，在做表面打光时把大部分异物缺陷17打出并当作灰尘滤除掉了，由于表面灰尘16和异物缺陷17只隔了层透明盖板11，两者拍出的特征基本无差异，无法准确区分。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种基于双目视觉系统的液晶屏缺陷与灰尘区分法及检测装置，以解决目前技术中自动检测设备对异物缺陷与表面灰尘无法区分的问题。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种基于双目视觉系统的液晶屏缺陷与灰尘区分法，包括如下步骤：

将待检测的液晶屏放置于检测设备中，检测设备包括一台主相机及环绕于主相机分布的多台侧相机，采用一台主相机与任意一台侧相机组成双目视觉系统；

以待检测的液晶屏的液晶层为基准面，利用靶标画面对双目视觉系统进行标定，确定双目视觉系统对应的图像坐标系统之间的映射关系；

使用双目视觉系统对液晶屏成像，得到双目图像A和图像B，其中，图像A为主相机对液晶屏的成像，图像B为侧相机对液晶屏的成像；

分别对图像A和图像B进行图像处理，根据灰度信息，获取图像中的缺陷信息；

将图像A和图像B根据映射关系，转换到基准面坐标系统；

在基准面坐标系统中，对图像A和图像B中的缺陷，根据匹配准则进行缺陷配准，获取液晶屏上缺陷在图像A和图像B中的视差信息；

判断缺陷在图像A和图像B中的视差信息，如果相同则表明为异物缺陷，如果不同则表明为表面灰尘。

在其中一个实施例中，检测设备包括一台主相机及环绕于主相机分布的四台侧相机，四台侧相机以主相机为中心呈环形阵型分布。

在其中一个实施例中，主相机为高分辨率相机，侧相机为低分辨率相机。

在其中一个实施例中，缺陷信息包括：液晶屏内的异物缺陷信息、液晶屏表面的表面灰尘信息。

在其中一个实施例中，判断缺陷在图像A和图像B中的视差信息包括：

判断对应缺陷的图像视差是否大于预设的误差阈值；

如果所述图像视差大于所述误差阈值，则判断所述缺陷不为异物缺陷；

如果所述图像视差小于所述误差阈值，则判断所述缺陷为异物缺陷。

一种检测装置，包括：一台主相机、多台侧相机、环形轨道、一个主相机升降调节结构、多个侧相机升降及角度调节结构；