[发明专利]具有减速级的多反射质谱仪有效

专利信息
申请号: 201711058532.0 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN108022823B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: H·斯图尔特;D·格林菲尔德;A·马卡洛夫 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
主分类号: H01J49/40 分类号: H01J49/40
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 姬利永;钱慰民
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 减速 反射 质谱仪
【权利要求书】:

1.一种多反射质谱仪,其包括在X方向上间隔开且彼此对置的两个离子镜,每一离子镜大体上沿着漂移方向Y伸长,所述X方向正交于所述漂移方向Y,以及离子注入器,所述离子注入器用于与所述X方向成倾斜角度将离子作为离子束注入到所述离子镜之间的空间中,其中沿着在所述漂移方向Y上所述离子镜的长度的第一部分,所述离子镜以第一收敛程度收敛,且沿着在所述漂移方向Y上所述离子镜的长度的第二部分,所述离子镜以第二收敛程度收敛或者平行,所述离子镜的长度的所述第一部分比所述第二部分更接近所述离子注入器,且所述第一收敛程度大于所述第二收敛程度。

2.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中所述第一收敛程度使得在所述离子在长度的所述第一部分中在所述离子镜中经受一次或多次反射之后,所述离子在所述漂移方向Y上的漂移速度跨越长度的所述第一部分减少至少5%。

3.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中所述第一收敛程度使得在所述离子在长度的所述第一部分中在所述离子镜中经受一次或多次反射之后,所述离子在所述漂移方向Y上的漂移速度跨越长度的所述第一部分减少至少20%。

4.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中所述第一收敛程度使得在所述离子在长度的所述第一部分中在所述离子镜中经受一次或多次反射之后,所述离子在所述漂移方向Y上的漂移速度跨越长度的所述第一部分减少在5%到50%范围内的量。

5.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中所述第一收敛程度使得在所述离子在长度的所述第一部分中在所述离子镜中经受一次或多次反射之后,所述离子在所述漂移方向Y上的漂移速度跨越长度的所述第一部分减少在20%到50%范围内的量。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的多反射质谱仪,其中与在长度的所述第二部分中在所述离子镜中的每次反射在所述漂移方向Y上所述离子的漂移速度的平均减少相比,所述离子展现了在长度的所述第一部分中在所述离子镜中的至少一者中的每次反射在所述漂移方向Y上所述离子的漂移速度的更大的平均减少。

7.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中沿着所述长度的所述第一部分由收敛的所述离子镜产生的返回伪电位梯度大于沿着所述长度的所述第二部分由收敛的所述离子镜产生的返回伪电位梯度。

8.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中在使用中,所述离子注入器从所述离子镜的一个末端将离子注入到所述离子镜之间的所述空间中,使得离子多次从一个对置的离子镜反射到另一离子镜,同时沿着所述漂移方向Y漂移远离所述离子注入器以便遵循所述质谱仪内的大体上Z形路径。

9.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中所述离子注入器在所述漂移方向Y上接近于对置的所述离子镜的一个末端而定位。

10.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其进一步包括位于邻近所述离子注入器的区中的检测器。

11.根据权利要求1所述的多反射质谱仪,其中沿着所述离子镜的长度的所述第一和/或第二部分,每一离子镜大体上在所述漂移方向Y上的伸长是线性的。

12.根据权利要求1到5、7到10中任一权利要求所述的多反射质谱仪,其中沿着所述离子镜的长度的所述第一和第二部分,每一离子镜大体上在所述漂移方向Y上的伸长是非线性的。

13.根据权利要求1到5、7到10中任一权利要求所述的多反射质谱仪,其中两个离子镜均被成形以便在长度的所述第一和第二部分中的一者或两者中产生遵循多项式形状的弯曲反射表面。

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