[发明专利]一种基于线结构光的圆柱齿轮齿廓偏差测量方法有效

专利信息
申请号: 201711007536.6 申请日: 2017-10-25
公开(公告)号: CN107588742B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 石照耀;王涛;林家春 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 结构 圆柱齿轮 偏差 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于线结构光的圆柱齿轮齿廓偏差测量方法,其特征在于:该方法对圆柱齿轮的齿廓总偏差、齿廓倾斜偏差、齿廓形状偏差的高精度测量;

该方法包括如下步骤,

W1:建立被测齿轮齿面的三维标称数学模型

检测前需要限定被测齿轮的六个自由度,将限定齿轮的坐标系δp=[Op;Xp,Yp,Zp]定义为一个固定的直角坐标系;δp中齿面上任意一点B处的参考方程B(XB,YB,ZB)表示为:

其中,rb表示齿轮的基圆半径;z1表示某一端平面在δp中Z轴位置;α为渐开线在B点处的压力角;A点为B点所在端面渐开线的在基圆柱上的起始点;表示固定直角坐标系δp中OpA与Yp轴的初始转角;(XB,YB,ZB)为B点的坐标值;公式(1)即为被测齿轮齿面S(X1,Y1,Z1)的三维标称数学模型;

W2:结构光由间距相等的一系列光斑组成,基于结构光本身特性并在结构光的有效计值范围S0内;同一光斑数的结构光,被测齿廓线上光斑数越多,后期处理越精确,数据也越可信;测量单一轮齿表面时,调整角度前一轮齿不会遮挡射在齿根部位的投射光,并使得齿轮被测齿廓在S0有效测量范围以内,将有效避免阴影效应,且测量数据可信;

结构光测头空间位置参数与被测齿廓的关系:

其中,rb表示齿轮的基圆半径,a表示结构光测头坐标系原点在固定直角坐标系δp中x轴的坐标值,b表示结构光测头坐标系原点在固定直角坐标系δp中y轴的坐标值,表示被测齿廓与δp坐标系y轴的初始转角,与W1中的数学模型坐标系相对应;u、v分别表示被测齿廓中渐开线起始点A与测头安装位置的两轴向距离参数,两参数通过实际测量值计算出来;同理,被测齿廓上的任意点也能求出对应的各参数;

其中,a、v、b、u各参数之间能相互换算,用于各参数验算校准、调整结构光测头的姿态及位置;

W3:轮齿齿廓分为左齿廓和右齿廓,某一齿廓由测头得到空间位置参数,左、右齿廓都以转角为增量,实现所有齿廓的测量;或以转角直接测量第n个轮齿:

通过W1、W2建立被测量轮齿左、右齿面的空间坐标转换,将测量数据归一到齿轮坐标系;

1)被测量轮齿左齿面的空间坐标转换

直角坐标系δp=[Op;Xp,Yp,Zp]、δJ=[OJ;XJ,YJ,ZJ]和δI=[OI;XI,YI,ZI]分别表示为固定坐标系、被测齿轮的坐标系、结构光测头坐标系;左齿面齿廓的测量值表示为:δI→δP→δJ,即通过坐标系的位置关系,将结构光测头坐标系δI数据转换到被测齿轮的坐标系δJ中,得到左齿面实测方程:

其中,a、b、c物理意义为:变换前的坐标系δI的坐标原点OI在变换后被测齿轮坐标系δJ中的坐标;

2)被测量轮齿右齿面的空间坐标转换

直角坐标系δp=[Op;Xp,Yp,Zp]、δJ=[OJ;XJ,YJ,ZJ]和δII=[OII;XII,YII,ZII]分别表示为固定坐标系、被测齿轮的坐标系、结构光测头坐标系;左齿面齿廓的测量值表示为:δII→δP→δJ,即通过坐标系的位置关系,将结构光测头坐标系δII数据转换到被测齿轮的坐标系δJ中,得到右齿面实测方程:

其中,a、b、c物理意义为:变换前的坐标系δII的坐标原点OII在变换后被测齿轮坐标系δJ中的坐标;

根据以上左、右齿面的空间坐标转换模型,转换模式有两种:1)测量一条齿廓线,通过空间坐标关系,归一到被测齿轮的坐标系δJ;2)以增量测量所有齿廓,统一归一到被测齿轮的坐标系δJ

W4:建立齿轮齿廓偏差项的数学模型

在齿轮坐标系中用同心圆的形式进行表示评价区间,E、F所处的同心圆在坐标系中计算得到;F点是相配齿轮齿顶圆,E点为匹配齿轮相啮合的起始点;LAF、LAE和Lα分别为可用长度、有效长度和齿廓计值范围;Lα是受检范围,受检的区间范围等于有效长度LAE的92%,坐标系中也可遵照标准规定进行受检范围的调整;若设计齿廓S4方程、实际齿廓S3及坐标系都可知;那么,根据渐开线的特性,各齿廓偏差项在基圆上初始夹角差进行计算;

1)齿廓总偏差Fα

其中,两条设计齿廓S4包容实际齿廓迹线S3;和分别为建立的齿轮Xp轴与包容被测某齿廓的设计齿廓的最大和最小夹角,结合渐开线的性质求得两包容设计齿廓法向距离,即求得齿廓总偏差Fα

2)齿廓形状偏差f

转换到齿轮坐标系的测量数据{(XJ,YJ),J=0,1…,n},其中YJ=f(XJ),ε为与实测曲线线性无关的函数族ε(n)中某一函数S*(x),使得此函数到各数据点的残差平方和最小;

其中,S(x)为平均齿廓,两条平均齿廓包容实际齿廓迹线;为被包容某齿廓的两条平均齿廓在基圆上的初始夹角差;

3)齿廓倾斜偏差f

按式(8)求得齿廓的平均齿廓S(x),在计值范围Lα的最大范围边界和最小范围边界上,平均齿廓线S(x)存在最大和最小的两个端点,这两点经两条设计齿廓迹线进行包容,结合渐开线的性质,得到两设计齿廓迹线的法向距离,即齿廓倾斜偏差f

其中,为被包容某齿廓的平均齿廓在计值范围两端,经两条设计齿廓S4进行包容,得到的设计齿廓在基圆上的初始夹角差;

最终实现对圆柱齿轮的齿廓总偏差、齿廓倾斜偏差、齿廓形状偏差的高精度测量。

2.根据权利要求1所述的一种基于线结构光的圆柱齿轮齿廓偏差测量方法,立式测量机包括主轴单元、测量单元和机床床身,主轴单元与测量单元安装在机床床身上;主轴单元包括主轴以及尾座,θ轴圆光栅与主轴相连,Y轴光栅安装在Z轴上测量测绘单元沿Y方向的移动;测绘单元包括Z方向移动杆、X方向移动杆以及结构光测头,Z轴光栅安装在Y轴移动杆上测量Z轴的移动,X轴光栅安装在床身上测量X方向移动杆的移动,结构测头安装在Z方向移动杆上;测量过程中,计算机通过控制卡来控制与X轴、Y轴、Z轴和θ轴相连的电机来控制四个轴的运动,实现全自动化测量;数据采集系统中的X轴光栅、Y轴光栅、Z轴光栅、θ轴圆光栅和结构光测头将获得数据输入到控制卡中,由控制卡上传至计算机,进行数据处理;被测圆柱齿轮安装在主轴与尾座的顶尖之间。

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