[发明专利]半导体系统及操作半导体装置的方法有效
申请号: | 201710971575.1 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN108376085B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 朴相旭;姜奉春;李清祐;申熙东 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F9/4401 | 分类号: | G06F9/4401 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 刘培培;黄隶凡 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 系统 操作 装置 方法 | ||
一种半导体系统及操作半导体装置的方法。半导体系统包括存储补丁代码的非易失性存储器,补丁代码包括唯一识别符。内部只读存储器存储引导代码,引导代码包括用于执行补丁代码的补丁代码执行功能及用于规定将要执行的补丁代码的存储位置的链接寄存器地址。静态随机存取存储器在存储位置处存储补丁代码的副本,补丁代码的副本包括唯一识别符。处理器从存储位置执行补丁代码的副本。处理器根据比较结果来执行存储在静态随机存取存储器中的存储位置处的补丁代码的副本。
技术领域
本发明涉及一种半导体系统及操作与半导体系统相关联的半导体装置的方法。
背景技术
在包括半导体系统的电子系统(例如,采用应用处理器(application processor,AP)的系统)的引导过程期间可能会出现各种问题。如果确定存在与内部只读存储器(internal read-only memory,IROM)的引导代码相关联的问题(例如,与引导过程相关联的问题),则重新制造内部只读存储器可为耗时且成本高昂的。举例来说,用于对引导代码问题进行定址的代码模拟及验证过程以及基于经过修改的引导代码对内部只读存储器进行的重新制造可消耗资源。另外,在对掩模式只读存储器(Read-Only Memory,ROM)进行修改以制造内部只读存储器时会额外地消耗成本及资源。
发明内容
本发明的各个方面提供一种能够在改变内部只读存储器的引导代码的运行的同时节约时间及成本的半导体系统。
在本发明的一些实施例中,提供一种用于操作半导体系统的方法,所述方法能够在解决与内部只读存储器的引导代码相关联的问题的同时节约时间及成本。
然而,所属领域中的普通技术人员将理解,本发明的各个方面并非仅限于本文所述的方面且存在许多其他实施例。通过参照说明书、权利要求书、及随附图式,对本发明实施例所属领域中的普通技术人员来说本发明的各个方面将变得更显而易见。
根据本发明的一方面,提供一种半导体系统,所述半导体系统包括:非易失性存储器,存储补丁代码,所述补丁代码包括唯一识别符(unique identifier,ID);内部只读存储器(IROM),存储引导代码,所述引导代码包括用于执行所述补丁代码的补丁代码执行功能及用于规定将要执行的所述补丁代码的存储位置的链接寄存器(linked register,LR)地址;静态随机存取存储器(static random memory,SRAM),在所述存储位置处存储所述补丁代码的副本,所述补丁代码的所述副本包括唯一识别符;以及处理器,从所述存储位置执行所述补丁代码的所述副本,其中当执行所述补丁代码执行功能时,所述补丁代码执行功能利用比较来将存储在所述非易失性存储器中的所述补丁代码的所述唯一识别符与从所述引导代码提供的所述链接寄存器地址进行比较,且其中所述处理器根据所述比较结果来执行存储在所述静态随机存取存储器中的所述存储位置处的所述补丁代码的所述副本。
根据本发明的另一方面,提供一种半导体系统,所述半导体系统包括:非易失性存储器,存储补丁代码,所述补丁代码包括唯一识别符(ID);内部只读存储器(IROM),存储引导代码,所述引导代码包括用于执行所述补丁代码的补丁代码执行功能及用于规定将要执行所述补丁代码的存储位置的链接寄存器(LR)地址;以及处理器,其中当执行所述补丁代码执行功能时,所述补丁代码执行功能将存储在所述非易失性存储器中的所述补丁代码的所述唯一识别符与从所述引导代码提供的所述链接寄存器地址进行比较,且其中所述处理器根据所述比较结果来执行所述补丁代码。
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