[发明专利]一种提高两片式框架封装定位精度的制造方法在审

专利信息
申请号: 201710965025.9 申请日: 2017-10-17
公开(公告)号: CN107785276A 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 李成军;薛志祥;姚霜霜 申请(专利权)人: 江苏捷捷微电子股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司32243 代理人: 卢海洋
地址: 226200 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 两片式 框架 封装 定位 精度 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种提高两片式框架封装定位精度的制造方法,包括以下步骤:

a、将下框架(15)定位在石墨治具上;

b、在下框架(15)的载片台上涂覆适量的焊锡膏;

c、将芯片贴装于下框架(15)的载片台上;

d、在上框架(14)的载片台上涂覆适量的锡膏;

e、将上框架(14)覆盖在下框架(15)上,用定位针(13)穿过焊接步骤定位圆孔组(11)和焊接步骤定位长孔组(12)对准定位;

f、对合在一起的上下框架进行高温焊接;

g、用定位针(13)穿过包封步骤定位圆孔组(9)、包封步骤定位长孔组(10)进行树脂包封定位;

h、对高温焊接并再次定位好后的框架进行树脂包封;

i、对树脂包封后的框架进行切筋成型。

2.按照权利要求1所述的一种提高两片式框架封装定位精度的制造方法,其特征在于:所述焊接步骤定位圆孔组(11)和焊接步骤定位长孔组(12)的上下定位孔等径。

3.按照权利要求1所述的一种提高两片式框架封装定位精度的制造方法,其特征在于:所述包封步骤定位圆孔组(9)和包封步骤定位长孔组(10)的上下定位孔不等径。

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