[发明专利]一种地磁梯度张量测量阵列的设计方法有效

专利信息
申请号: 201710955114.5 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN107817457B 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 王新华;张涛;陈迎春;赵以振;句海洋;饶* 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01R33/022 分类号: G01R33/022
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 地磁 梯度 张量 测量 阵列 设计 方法
【说明书】:

本发明公开了一种地磁梯度张量测量阵列的设计方法,属于地磁异常反演领域。阵列由9个探头在平面形成菱形排列,每个探头能够测量三轴磁场信号。本发明公开了一阶及二阶地磁梯度张量计算方法,公开了基线距离与一阶、二阶地磁梯度张量测量误差的关系。本发明能够提高地磁梯度张量的测量精度,进一步保证地磁异常反演可靠性。

技术领域

本发明涉及一种地磁梯度张量测量阵列的设计方法,能够实现高精度的一阶及二阶地磁梯度张量测量,属于地磁异常反演领域。

背景技术

地磁场作为地球基本属性,具有相对稳定和均匀的特性。地磁场具有不需要发射源、全天候存在、全地域覆盖等优点。在地磁环境条件下的铁磁物质,能够感应出磁场,从而使得所在位置的磁场信号异于周围磁场。地磁异常信号的强弱和方向,与铁磁物质本身的特性、构造和外形尺寸等相关。通过地磁异常信号反演能得到目标体的形状和姿态特征,从而识别出目标物质的基本属性。

一阶地磁梯度张量由磁场分量在不同方向上的空间变化率组成,二阶地磁梯度张量是一阶地磁梯度张量进一步偏导。相比于单分量磁场、总磁场,一阶和二阶地磁梯度张量不受总场测量的限制,被广泛应用在磁目标定位、磁源几何参数反演等领域。

由于外界干扰、仪器零漂变化、地磁不稳定等随机噪声,给地磁异常信号反演造成了很大困难,对检测探头的灵敏度、准确性和鲁棒性提出了很高的要求。现有的地磁检测多采用单探头、十字形和六面体阵列型式,测量精度易受到噪声影响。

发明内容

本发明目的是提供一种地磁梯度张量测量阵列的设计方法,能够实现目标磁场的高精度测量,提高地磁反演的灵敏度、分辨率和鲁棒性。

为解决上述目的,本发明所采用的技术方案为

一种地磁梯度张量测量阵列的设计方法,测量阵列由9个探头在x-y平面形成菱形排列,每个探头能够测量三轴磁场信号,其中,每4个探头组成一个十字型阵列结构,基线距离d相等,则每个十字型阵列的中心磁场由周围4个探头磁场平均值求得,表示为

式中,i=1、2、3、4,代表4个十字型阵列,j=x、y、z,代表磁场三轴方向。x±、y±分别代表沿x轴和y轴正、反方向。

4个十字型阵列的中点可组成新的十字型阵列,根据公式(1)及张量对称性,阵列中心的一阶地磁梯度张量G表示为

式中,分别代表x轴正方向、反方向阵列中心的三轴磁场,分别代表y轴正方向、反方向阵列中心的三轴磁场。

进一步,分别求得4个十字型阵列的一阶地磁梯度张量Gk,表达式为

其中,k=1、2、3、4。G3、G1分别代表沿x轴正方向、反方向一阶地磁梯度张量,G2、G4分别代表沿y轴正方向、反方向一阶地磁梯度张量。

进一步,可以求得一阶地磁梯度张量在不同方向的偏导,即二阶地磁梯度张量表达式为

其中,C和D为

进一步,基线距离越小,一阶及二阶地磁梯度张量的测量精度越高。

附图说明

图1是本专利阵列结构示意图

图2是十字形阵列结构示意图

图3是六面体阵列结构示意图

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