[发明专利]抗蚀剂组合物和图案化方法有效
申请号: | 201710885362.7 | 申请日: | 2017-09-27 |
公开(公告)号: | CN107870518B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 畠山润;大桥正树;佐佐见武志 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/039 | 分类号: | G03F7/039;G03F7/038;G03F7/004;G03F7/20 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 杜丽利 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抗蚀剂 组合 图案 方法 | ||
1.正型抗蚀剂组合物,其包括基础聚合物和含碘化芳族基团的羧酸的金属盐,其中所述含碘化芳族基团的羧酸的金属盐具有式(A):
其中,R1为氢,羟基,C1-C6直链、支链或环状的烷基,C1-C6直链、支链或环状的烷氧基,C2-C6直链、支链或环状的酰氧基,氟,氯,溴,氨基,-NR2-C(=O)-R3或-NR2-C(=O)-O-R3,R2为氢或C1-C6直链、支链或环状的烷基,R3为C1-C6直链、支链或环状的烷基或C2-C8直链、支链或环状的烯基,G为单键或可以包含醚、羰基、酯、酰胺、磺内酯、内酰胺、碳酸酯、卤素、羟基或羧基结构部分的C1-C20(p+1)价连接基团,p为1至3的整数,q为1至5的整数,r为0至3的整数,Mn+为选自以下的金属离子:Na+、Mg2+、K+、Ca2+、Rb+、Sr2+、Cs+、Ba2+、Co2+、Ni2+、Cu2+、Zn2+、Cd2+、Sn4+、Sb3+、Zr4+、Hf4+、Ce3+、Al3+和In3+,表示Mn+的价数的n为1至4的整数,
其中所述基础聚合物包括具有式(a1)的重复单元或具有式(a2)的重复单元:
其中,RA各自独立地为氢或甲基,R41和R42各自独立地为酸不稳定性基团,X为单键、亚苯基、亚萘基或包含酯结构部分或内酯环的C1-C12连接基团,Y为单键或酯基团。
2.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其进一步包括能够产生磺酸、磺酰亚胺或磺酰甲烷的产酸剂。
3.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其进一步包括有机溶剂。
4.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其进一步包括溶解抑制剂。
5.根据权利要求1所述的正型抗蚀剂组合物,其为化学增幅正型抗蚀剂组合物。
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