[发明专利]磁粉探伤装置及磁粉探伤方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种磁粉探伤装置及磁粉探伤方法，更详细地说，涉及使用磁粉进行探伤的磁粉探伤装置及磁粉探伤方法。

背景技术

磁粉探伤试验适用于例如小方坯等钢材、机动车的轴等被检查物的表面的探伤检查，被标准化成JIS-Z-2320。在磁粉探伤试验中，将含有磁粉的磁粉溶液涂覆于被检查物的表面，并且，采取在被检查物施加磁场等措施，将被检查物磁化。在裂纹等瑕疵存在于被磁化了的被检查物的表面的场合，因为从此瑕疵泄漏磁通，所以，磁粉被此漏磁通吸引，形成由磁粉形成的指示图案。于是，通过观测此磁粉指示图案，对瑕疵进行检查。在磁粉探伤试验中，为了提高瑕疵的检测精度，还已知使用在磁粉涂覆荧光体的荧光磁粉的荧光磁粉探伤试验。于是，这样的磁粉探伤试验为了提高检测准确度、作业效率，提出了各种各样的方式。

在专利文献1中公开了一种磁粉探伤方法，该磁粉探伤方法由磁化工序、散布工序、观察工序和退磁工序组成；在该磁化工序中，在插入到形成了在厚度方向上贯通的孔的由磁性体构成的被检查材的孔中的电流贯通极中通直流电流，并且，在与被检查材的两侧面相向地配置的磁化线圈中通交流电流，将上述被检查材磁化；在该散布工序中，将磁粉液散布于上述被检查材的表面；在该观察工序中，观察附着于上述被检查材的磁粉的有无；在该退磁工序中，将上述被检查材退磁。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2003-344359号公报

发明内容

发明所要解决的课题

根据专利文献1的磁粉探伤方法，对被检查材的整个表面的任何方向的缺陷都可在短时间进行探伤。另外，在专利文献1中还公开了为了以少的喷嘴而且在短时间中均匀地散布磁粉液，一面使被检查材以孔为轴心旋转，一面从上方散布磁粉液。

在这里，从被检查物的表面裂纹等瑕疵部泄漏的漏磁通非常弱，尽管可对通过瑕疵部的上方的磁粉进行吸引，但不能对通过从瑕疵部离开的部位的磁粉拉到近旁。另外，当流过被检查物的表面的磁粉液的流动快时，磁粉不被漏磁通吸引地流动，不形成磁粉指示图案。另一方面，当流过被检查物的表面的磁粉液的流动慢时，形成磁粉指示图案之前需要许多的时间。另外，磁粉变得容易残留于与瑕疵部不同的部位，瑕疵部的误检增加，瑕疵部的检测准确度变得容易下降。因此，为了提高瑕疵部的检测准确度、作业效率，使流过被检查物的表面的磁粉液的流动为恰当且固定的流动很重要。

在专利文献1的磁粉探伤方法中，尽管考虑了在短时间内均匀地散布磁粉液，但对于流过被检查体的表面的磁粉液的流动没有进行任何考虑。另外，在专利文献1的磁粉探伤方法中，关于在散布磁粉液的时候积存于被检查体的下部的磁粉液也没有考虑。在为了观测磁粉指示图案而使被检查体旋转的场合，有时积存于被检查体的下部的磁粉液流过被检查体的表面而将磁粉指示图案的一部分抹去，存在瑕疵部的漏检的场合。并且，在专利文献1的磁粉探伤方法中，因为被检查物被限定于形成了在厚度方向上贯通的孔的被检查物，所以，通用性差。

因此，本发明的目的在于提供一种瑕疵部的检测准确度高、圆周方向的检测能力固定不变的磁粉探伤装置及磁粉探伤方法。

用于解决课题的技术手段

为了解决上述课题，本发明的磁粉探伤装置的特征在于，具备

以水平方向为轴将被检查物支承为可旋转的支承部，

将上述被检查物磁化的磁化部，

将磁粉液涂覆于上述被检查物的涂覆部和

对上述被检查物进行摄像的摄像部；

构成为在下方侧将上述磁粉液涂覆于以固定速度旋转的旋转状态的上述被检查物的表面，在上方侧进行摄像。

并且，特征在于，在上述涂覆部与上述摄像部之间还具备清洗部；

构成为在对上述被检查物摄像之前将多余的磁粉除去。

并且，特征在于，构成为在对上述被检查物摄像的时候上述支承部停止上述被检查物的旋转。

并且，本发明的磁粉探伤方法的特征在于，具备以水平方向为轴使被检查物旋转的工序，

将磁粉液涂覆于上述被检查物的工序，

将上述被检查物磁化的工序和

对上述被检查物进行摄像的工序；

一面以固定速度使上述被检查物旋转，一面在下方侧将上述磁粉液涂覆于上述被检查物的表面，在上方侧进行摄像。

并且，特征在于，还具备在对上述被检查物摄像之前将多余的磁粉除去的工序。