[发明专利]磁粉探伤装置及磁粉探伤方法在审
| 申请号： | 201710814628.9 | 申请日： | 2017-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN107817291A | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 松本谦二;一本哲男 | 申请（专利权）人： | 码科泰克株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 李鹏宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 探伤 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种磁粉探伤装置，其特征在于，具备：
以水平方向为轴将被检查物支承为可旋转的支承部、
将上述被检查物磁化的磁化部、
将磁粉液涂覆于上述被检查物的涂覆部，和
对上述被检查物进行摄像的摄像部；
构成为，在下方侧将上述磁粉液涂覆于以固定速度旋转的旋转状态的上述被检查物的表面，在上方侧进行摄像。
2.根据权利要求1所述的磁粉探伤装置，其特征在于，在上述涂覆部与上述摄像部之间还具备清洗部；
上述磁粉探伤装置构成为，在对上述被检查物摄像之前将多余的磁粉除去。
3.根据权利要求1或2所述的磁粉探伤装置，其特征在于，构成为，在对上述被检查物摄像的时候上述支承部停止上述被检查物的旋转。
4.一种磁粉探伤方法，其特征在于，具备：
以水平方向为轴使被检查物旋转的工序、
将磁粉液涂覆于上述被检查物的工序、
将上述被检查物磁化的工序，和
对上述被检查物进行摄像的工序；
一面以固定速度使上述被检查物旋转，一面在下方侧将上述磁粉液涂覆于上述被检查物的表面，在上方侧进行摄像。
5.根据权利要求4所述的磁粉探伤方法，其特征在于，还具备在对上述被检查物摄像之前将多余的磁粉除去的工序。
6.根据权利要求4或5所述的磁粉探伤方法，其特征在于，包含在对上述被检查物摄像的时候还停止上述被检查物的旋转的工序。
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