[发明专利]闭环控制的轨道检查仪检定台及检定方法有效
申请号: | 201710793960.1 | 申请日: | 2017-09-06 |
公开(公告)号: | CN107435284B | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 尹峰;顾世平;田新宇;杨飞;赵钢;刘秀波;尤明熙;陶凯;牛留斌 | 申请(专利权)人: | 中国铁道科学研究院集团有限公司;中国铁道科学研究院集团有限公司基础设施检测研究所;北京铁科英迈技术有限公司 |
主分类号: | E01B35/00 | 分类号: | E01B35/00;E01B35/02;E01B35/06 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王春光 |
地址: | 100081*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闭环控制 轨道 检查 检定 方法 | ||
1.一种闭环控制的轨道检查仪检定台,其包括壳体、平移机构和升降机构,所述壳体上设有顶横梁,所述顶横梁的连接端能旋转的连接于所述壳体的一端,所述顶横梁的连接端的上方固设固定端长梁,所述顶横梁的自由端的上方设有与所述固定端长梁平行的活动端长梁;所述平移机构设于所述顶横梁的自由端上,其特征在于,
所述壳体内设有运动控制卡,所述运动控制卡与位于所述壳体外的上位机电连接;所述活动端长梁能在所述平移机构的第一伺服电机驱动下水平往复移动,所述平移机构包括能检测所述活动端长梁水平位移的第一光栅尺,所述第一伺服电机和所述第一光栅尺均与所述运动控制卡电连接;
所述升降机构固设于所述壳体,所述升降机构与所述顶横梁的自由端的底壁能滑动的相连,所述顶横梁的自由端能在所述升降机构的第二伺服电机驱动下绕所述顶横梁的连接端上下往复摆动,所述升降机构包括能检测竖直位移的第二光栅尺,所述第二伺服电机和所述第二光栅尺均与所述运动控制卡电连接。
2.根据权利要求1所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述平移机构还包括丝杠和间隔的固设于所述顶横梁上的电机板及护罩,所述第一伺服电机位于所述电机板远离所述护罩的一侧,所述丝杠的一端穿设于所述电机板并与所述第一伺服电机相连,所述丝杠的另一端穿设于所述护罩,所述活动端长梁位于所述电机板和所述护罩之间并与所述丝杠相连。
3.根据权利要求2所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述平移机构还包括固设于所述顶横梁上的两条相互平行的第一导轨,所述丝杠位于两条所述第一导轨之间,所述第一导轨上设有能滑动的滑座,所述活动端长梁的两端分别与一所述滑座相连。
4.根据权利要求2所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述平移机构还包括一个能检测所述活动端长梁水平零位的零位光电传感器和两个能检测所述活动端长梁水平极限位置的行程限位光电传感器,所述零位光电传感器和所述行程限位光电传感器均固设于所述顶横梁并与所述运动控制卡电连接。
5.根据权利要求1所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述升降机构包括底座和电缸,所述底座与所述壳体相连,所述电缸与所述第二伺服电机均固设于所述底座上,所述电缸与所述第二伺服电机相连。
6.根据权利要求5所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述顶横梁的自由端的底壁设有沿横向延伸的第二导轨,所述升降机构包括位于所述电缸上端的转轴,所述转轴能转动的连接一滑块,所述滑块能滑动的设于所述第二导轨。
7.根据权利要求5所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述电缸的外壳上设有一个能检测所述活动端长梁竖直零位的零位光电传感器和两个能检测所述活动端长梁竖直极限位置的行程限位光电传感器,所述零位光电传感器和所述行程限位光电传感器均与所述运动控制卡电连接。
8.根据权利要求1所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述闭环控制的轨道检查仪检定台还包括支架机构,所述壳体固设于所述支架机构上,所述支架机构包括框架,所述框架的下方设有多个脚轮和多个调平地脚。
9.根据权利要求8所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,其特征在于,所述框架的四个端角分别设有一固定架,所述固定架上枢接能90度折叠的辅助支撑杆,所述辅助支撑杆的下方设有辅助调平地脚。
10.一种闭环控制的轨道检查仪检定方法,其特征在于,所述闭环控制的轨道检查仪检定方法采用如权利要求1~9中任一项所述的闭环控制的轨道检查仪检定台,所述闭环控制的轨道检查仪检定方法包括如下步骤:
步骤a:将待检定的轨道检查仪固定于固定端长梁和活动端长梁上;
步骤b:通过上位机向运动控制卡输入控制信号,所述运动控制卡根据接收的控制信号控制平移机构的第一伺服电机或升降机构的第二伺服电机转动,所述第一伺服电机能驱动所述活动端长梁水平往复移动以改变轨距,所述第二伺服电机能驱动顶横梁的自由端绕所述顶横梁的连接端上下往复摆动以改变超高;
步骤c:将所述待检定的轨道检查仪检测的轨距或超高与所述上位机输入的控制信号进行比对。
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