[发明专利]探测装置、探测方法和探测程序

权利要求书

1.探测装置，包括：

第一相关单元，通过对构成码序列的每个码，运算以规定的频率检波了相位调制的输入波的第一检波信号和规定的所述码序列之间的相关，生成相当于所述码序列的长度即码序列长度的数的多个第一相关信号；以及

控制单元，通过使所述多个第一相关信号的每一个相位旋转，将所述相位旋转后的所述多个第一相关信号相加而生成加法值，基于所述加法值判定所述输入波是否为来自规定的对象物的回波。

2.如权利要求1所述的探测装置，

所述第一检波信号包含通过正交检波所述输入波得到的第一检波信号(I)和第一检波信号(Q)，

所述第一相关单元包括：通过对构成码序列的每个码，运算所述第一检波信号(I)及所述第一检波信号(Q)与规定的所述码序列之间的相关，生成相当于所述码序列的长度即码序列长度的数的多个第一相关信号(I)及所述第一检波信号(Q)的第一相关单元(I)及第一相关单元(Q)，

所述控制单元包括：通过使所述多个第一相关信号(I)及所述第一检波信号(Q)各自的相位旋转，将所述相位旋转后的多个第一相关信号(I)及所述相位旋转后的多个第一相关信号(Q)相加而生成加法值(I)及加法值(Q)的相位旋转控制单元(I)及相位旋转控制单元(Q)，

基于所述加法值(I)及加法值(Q)，判定所述输入波是否为来自所述规定的对象物的所述回波。

3.如权利要求1所述的探测装置，

所述输入波以所述规定的码序列对载波进行相位调制而生成，所述规定的频率是所述载波的频率。

4.如权利要求1所述的探测装置，

所述控制单元包括：

多个相位控制单元，在使相当于所述码序列长度的数的第一相关信号各自的相位，旋转了基于彼此不同的多个多普勒频移量的规定量后，将相当于所述码序列长度的数的所述相位旋转后的第一相关信号相加，生成加法值；

多个第一强度获取单元，对应于所述多个相位控制单元而设置，基于由对应的所述相位控制单元生成的加法值，导出表示所述输入波的强度的多个第一强度信息；

集中单元，选择所述多个第一强度信息的一个；以及

探测单元，判定所述输入波是否为来自所述规定的对象物的所述回波。

5.如权利要求4所述的探测装置，

基于所述多普勒频移量的规定量是0°、90°、180°和270°之中的任一个。

6.如权利要求1所述的探测装置，

其为1芯片的集成电路。

7.如权利要求1所述的探测装置，还包括：

第二检波单元，生成以具有与载波的频率不同的频率的信号检波了来自外部的输入波的第二检波信号；以及

第二相关单元，通过对每个所述码序列运算所述第二检波信号和所述规定的码序列之间的相关，生成单一的第二相关信号，

所述控制单元包括基于所述加法值和所述第二相关信号，判定所述探测装置的探测区域中的目标的有无的检测单元。

8.探测方法，包括以下步骤：

第一相关步骤，通过对构成码序列的每个码，运算以规定的频率检波了相位调制的输入波的第一检波信号和规定的所述码序列之间的相关，生成相当于所述码序列的长度即码序列长度的数的多个第一相关信号；以及

控制步骤，通过使所述多个第一相关信号的每一个相位旋转，将所述相位旋转后的所述多个第一相关信号相加而生成加法值，基于所述加法值判定所述输入波是否为来自规定的对象物的回波。

9.探测程序，包括：

第一相关步骤，通过对构成码序列的每个码，运算以规定的频率检波了相位调制的输入波的第一检波信号和规定的所述码序列之间的相关，生成相当于所述码序列的长度即码序列长度的数的多个第一相关信号；以及

控制步骤，通过使所述多个第一相关信号的每一个相位旋转，将所述相位旋转后的所述多个第一相关信号相加而生成加法值，基于所述加法值判定所述输入波是否为来自规定的对象物的回波。