[发明专利]接合基板的方法有效
申请号: | 201710719266.5 | 申请日: | 2013-08-22 |
公开(公告)号: | CN107680918B | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 凯瑟拉·拉马亚·纳伦德纳斯;甘加达尔·希拉瓦特;默尼卡·阿咖瓦;阿西斯·巴哈特纳瓜 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683;H01L21/687 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 接合 方法 | ||
披露了一种接合基板的方法、使用此方法形成组件的方法,以及整修这些组件的改良方法,这些方法利用在用于结合两个基板的粘结剂中形成的至少一个沟道来改良组件的制造、性能和整修。在一个实施方式中,组件包括通过粘结层固定至第二基板的第一基板。所述组件包括沟道,所述沟道具有由粘结层界定的至少一侧并且具有暴露于组件的外部的出口。
本申请为2013年8月22日递交的申请号为201380048727.0并且发明名称为“接合基板的方法”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明的实施方式大体涉及接合基板的方法和通过此方法使用分段接合设计制造的适用于半导体处理腔室中的部件。
背景技术
在基板处理应用中,使用接合在一起的两个或更多个零件或基板来制造多个腔室零件和部件。这些部件的实例包括:接合至温度控制支撑件的静电圆盘(electrostaticpuck)、接合至气体分配板的喷头和接合至腔室盖的加热器等。
图1为包括接合在一起的基板的传统腔室零件的实例,该传统腔室零件图示为静电夹盘组件100。静电夹盘组件100包括通过粘结层104耦接至温度控制基底106的静电圆盘102。静电圆盘102包括基板支撑表面120,晶片(未示出)在真空处理期间静电固持在所述基板支撑表面120上。基板支撑表面120大体包括提供背侧气体(诸如氦)的多个背侧气体输送孔(未示出),以改良基板与静电圆盘102之间的热传递。
粘结层104为覆盖静电圆盘102与温度控制基底106的整个配合表面的大体连续的整体层(monolithic layer)。粘结层104可包括形成为穿过粘结层104例如用于容纳升降销、射频功率输送杆、氦通道和类似物的多个孔。为简单起见,在图1中仅图示形成在粘结层104中的示例性升降销孔110。升降销孔110与穿过静电圆盘102形成的升降销孔116和穿过温度控制基底106形成的升降销孔118对准。
参照图2中描绘的静电夹盘组件100的局部截面图,静电圆盘102大体包括嵌入在介电体204中的夹持电极202。介电体204通常由陶瓷材料(诸如氮化铝和/或氧化铝)制造而成。夹持电极202可为金属网或其他适合的导体。通过穿过温度控制基底106和粘结层104的射频功率输送杆(未示出)将直流电压施加至夹持电极202,通过库仑效应或约翰逊-拉贝克(Johnsen-Rahbeck)效应实现对置于基板支撑表面120上的基板(即,晶片)的夹持。
温度控制基底106大体包括通常由铝、不锈钢或具有良好导热率的其他材料制造而成的导热体216。至少一个温度控制特征结构218可形成在导热体216中和/或耦接至导热体216。温度控制特征结构218可为加热器或冷却器,且在图2所示的实施方式中,温度控制特征结构218图示为内沟道220和外沟道222,单独受控的热传递流体可循环穿过内沟道220和外沟道222以跨越静电圆盘102的基板支撑表面120提供单独的温度控制区域。
在静电夹盘组件100的制造和/或使用期间,尤其在固化期间,由粘结层104释放的挥发物可被截留在静电圆盘102与温度控制基底106之间。截留的挥发性气体可使粘结层104与静电圆盘102和温度控制基底106之一或两者分层,诸如由图2中的空隙210所示。空隙210增加静电圆盘102与温度控制基底106之间的热阻抗,此情况可造成所处理的基板(例如,晶片)上的不符合技术要求(out-of-spec)的温度均匀性,进而导致对产量和生产力的昂贵损失。此外,在湿态固化的硅树脂用作粘结层104的应用中,完全固化粘结层104要求局部位于接合位点处的湿气的充分存在和可用性。在粘结层相对于粘结层的直径非常薄时,充分的湿气可用性变得困难或不可能,造成粘结剂的不完全固化。这进一步加剧在使用期间释放挥发物的可能性和静电夹盘组件100的后续分层和/或性能劣化。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710719266.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:发电机的控制方法与系统
- 下一篇:一种抗菌且耐微波的陶瓷及其制作工艺
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造