[发明专利]一种大豆物理检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种大豆物理检测系统。

背景技术

大豆作为一种经济作物，在我国有着广泛的种植面积，大豆的质量决定了其价格与用途，因此质量的正确断定十分重要。大豆质量的物理检验指标主要有完整粒率、杂质含量、损伤粒率、热损伤粒率和色泽等，检验人员在检验大豆时，主要是依据GB/5494的规定进行检验。在检验时，为确定大豆样品的完整粒率、杂质含量、损伤粒率和热损伤粒率，需要检验人员对上述指标所涉及到的杂质及不合格大豆种类进行依次分拣及称重，然后进行数据统计，并通过计算得出相应的大豆指标，在上述检测过程中，检测人员需要进行多次称重操作，导致检验效率低下，且在长时间作业下，给检测人员带来的劳动强度也大，容易导致后期检测人员称重读数存在较大误差，从而影响大豆的质量标定。

发明内容

本发明的目的在于提供一种大豆物理检测系统，利用本系统进行大豆抽样检测时，系统能够自动实现大豆内被拣出的杂质及相关不合格豆粒的称重，并通过统计主机实现各项指标的自动计算，不仅提高了大豆检测效率，同时，也降低了检测劳动强度。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是：一种大豆物理检测系统，包括支撑平台、电动筛选机、输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；

所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；

所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；

在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。

优选地，该系统还包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一杂质漏孔下方的称重斗内放出的杂质；所述第二收集盒用于收集位于所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔下方相对应的称重斗内放出的杂质；所述第三收集盒设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带左侧下方。

进一步地，在所述分析盘上设置一分隔板，所述分隔板由三个竖板构成，三个所述竖板的末端相互连接在一起，且相邻的两个竖板之间的夹角为120°，在所述分析盘的外边缘上设置有与所述竖板的前端相对应的卡槽。

进一步地，在所述支撑平台上设置一位于所述观察箱内的分析盘固定槽。

进一步地，在所述支撑平台的下底平面上设置一与所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔相配合的第一挡板。

优选地，在所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的一侧分别设置一位于所述支撑平台上的标签。

优选地，在所述输送带的两侧各设置一第二挡板。

优选地，在所述镊子的两个镊头的内侧均设置一橡皮垫。