[发明专利]一种大豆物理检测系统

权利要求书

1.一种大豆物理检测系统，包括支撑平台和电动筛选机，其特征是，该检测系统还包括输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；

所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；

所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；

在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。

2.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，该系统还包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一杂质漏孔下方的称重斗内放出的杂质；所述第二收集盒用于收集位于所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔下方相对应的称重斗内放出的杂质；所述第三收集盒设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带左侧下方。

3.根据权利要求2所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述分析盘上设置一分隔板，所述分隔板由三个竖板构成，三个所述竖板的末端相互连接在一起，且相邻的两个竖板之间的夹角为120°，在所述分析盘的外边缘上设置有与所述竖板的前端相对应的卡槽。

4.根据权利要求3所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述支撑平台上设置一位于所述观察箱内的分析盘固定槽。

5.根据权利要求4所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述支撑平台的下底平面上设置一与所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔相配合的第一挡板。

6.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的一侧分别设置一位于所述支撑平台上的标签。

7.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述输送带的两侧各设置一第二挡板。

8.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述镊子的两个镊头的内侧均设置一橡皮垫。