[发明专利]在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置

说明书

技术领域

本发明涉及触控技术领域，特别是涉及一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置。

背景技术

电容式触摸屏可以分为以下两种：(1)玻璃电容式触摸屏；(2)Film(薄膜)电容式触摸屏。

在制作玻璃电容式触摸屏时，根据图纸排版设计，先在大片的玻璃上形成用于确定触控坐标的触控电极以及用于连接触控电极与芯片的引线，然后再切割大片的玻璃，得到小片的玻璃(小片的玻璃尺寸与实际产品相当)。

在制作Film电容式触摸屏时，根据图纸排版设计，先在大片的Film上形成用于确定触控坐标的触控电极、用于连接触控电极与芯片的引线以及靶标，然后通过靶标，套位冲切大片的Film，得到小片Film(小片的Film尺寸与实际产品相当)。

在切割大片的玻璃或冲切大片的Film时，由于材料(引线的材料、靶标的材料)本身存在内缩外扩想象以及存在加工误差的存在，会导致小片玻璃或小片Film上的引线与小片玻璃或小片Film的边缘之间的距离过大或过小，也即存在切割偏位的现象。通常在判断切割是否偏位时，需要工作人员去测量每片小片玻璃或小片Film上的引线与小片玻璃或小片Film的边缘之间的距离，从而检验出偏位不良品，作业效率低下。

发明内容

基于此，有必要提供一种作业效率较高的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置。

一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，包括如下步骤：

提供用于形成多个小片基板的大片基板，其中，相邻两所述小片基板之间的区域为分隔区；

在所述小片基板上形成引线以及在所述小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔区上；

将所述小片基板从所述大片基板上分离出来；以及

目测所述小片基板上的检验标识，以确定所述引线是否偏位。

上述在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，通过先在所述小片基板上形成引线以及在所述小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔区上，然后在制作触控屏的过程中可以通过目测小片基板上的检验标识来确定引线是否偏位，相对于采用测量引线与小片基板边线之间的距离方式，作业效率较高。

在其中一个实施例中，所述大片基板包括中心区域及边框区域，所述中心区域用于形成多个所述小片基板；

在将所述小片基板从所述大片基板分离出来的步骤之前，还包括在所述边框区域形成靶标的步骤。如此可以采用套位靶标的方式从大片基板上将小片基板分离出来，提高生产效率和良率。

在其中一个实施例中，所述检验标识与所述引线同时形成。如此可以避免出现因增设检验标识而导致工艺步骤增加的问题。

在其中一个实施例中，所述检验标识与所述引线的材质相同。如此可进一步避免出现因增设检验标识而导致工艺步骤增加的问题。

在其中一个实施例中，所述检验标识为中心对称图形，所述检验标识的中心线与所述小片基板的边线重合。如此，中心对称图形更利于目测判断，因为中心对称图形例如半圆、优弧及劣弧相对于非中心对称图形如直角三角形具有更高的辨识度。

在其中一个实施例中，形成所述引线的尺寸公差为正负X，所述检验标识在沿相邻两所述小片基板的排布方向上的最大长度为所述X的两倍。如此设置，一方面可以保证检验标识便于肉眼观测，另一方面可以减少检验标识的制作材料，降低成本。

在其中一个实施例中，多个所述小片基板呈阵列形式排布，每列及每行均包括若干个所述小片基板，所述小片基板呈方形，每一所述小片基板包括相对的第一边线与第二边线，以及相对的第三边线与第四边线，在每行中，相邻两所述小片基板的所述第一边线与所述第二边线交错排布，在每列中，相邻两所述小片基板的所述第三边线与所述第四边线交错排布；

所述检验标识设于所述第一边线与所述第三边线中的至少一者上。如此可可以便于从大片基板上切割小片基板，同时在制作触控屏的过程中可以通过目测小片基板上的检验标识来确定引线是否偏位，相对于采用测量引线与小片基板边线之间的距离方式，作业效率较高。

一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，包括如下步骤：

提供第一大片基板以及第二大片基板，所述第一大片基板用于形成多个第一小片基板，所述第二大片基板用于形成多个第二小片基板，相邻两所述第一小片基板之间的区域为第一分隔区；