[发明专利]在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置

权利要求书

1.一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供用于形成多个小片基板的大片基板，其中，相邻两所述小片基板之间的区域为分隔区；

在所述小片基板上形成引线以及在所述小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔区上；

将所述小片基板从所述大片基板上分离出来；以及

目测所述小片基板上的检验标识，以确定所述引线是否偏位。

2.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述大片基板包括中心区域及边框区域，所述中心区域用于形成多个所述小片基板；

在将所述小片基板从所述大片基板分离出来的步骤之前，还包括在所述边框区域形成靶标的步骤。

3.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述检验标识与所述引线同时形成。

4.根据权利要求3所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述检验标识与所述引线的材质相同。

5.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述检验标识为中心对称图形，所述检验标识的中心线与所述小片基板的边线重合。

6.根据权利要求5所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，形成所述引线的尺寸公差为正负X，所述检验标识在沿相邻两所述小片基板的排布方向上的最大长度为所述X的两倍。

7.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，多个所述小片基板呈阵列形式排布，每列及每行均包括若干个所述小片基板，所述小片基板呈方形，每一所述小片基板包括相对的第一边线与第二边线，以及相对的第三边线与第四边线，在每行中，相邻两所述小片基板的所述第一边线与所述第二边线交错排布，在每列中，相邻两所述小片基板的所述第三边线与所述第四边线交错排布；

所述检验标识设于所述第一边线与所述第三边线中的至少一者上。

8.一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供第一大片基板以及第二大片基板，所述第一大片基板用于形成多个第一小片基板，所述第二大片基板用于形成多个第二小片基板，相邻两所述第一小片基板之间的区域为第一分隔区；

在所述第一小片基板上形成第一引线、第一触控电极以及在所述第一小片基板的边线处形成检验标识，在所述第二小片基板上形成第二引线及第二触控电极，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述第一小片基板上，另一部分位于所述第一分隔区上；

将所述第一大片基板远离所述第一引线的表面贴于所述第二大片基板上，且所述第一小片基板的边线与所述第二小片基板的边线重合；

将所述第一小片基板从所述第一大片基板分离出来，同时将所述第二小片基板从所述第二大片基板分离出来；以及

目测所述第一小片基板上的检验标识，以确定所述第一引线是否偏位。

9.一种丝刷装置，其特征在于，包括用于形成引线的第一丝印区域以及用于形成检验标识的第二丝印区域。

10.根据权利要求9所述的丝刷装置，其特征在于，还包括用于形成靶标的第三丝印区域。