[发明专利]在齿轮工件的齿面上进行接触测量的方法和测量设备有效
申请号: | 201710429632.3 | 申请日: | 2017-06-09 |
公开(公告)号: | CN107490353B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | K-M·里贝克;R·弗里奇塔茨基;R·沙拉斯特 | 申请(专利权)人: | 克林格伦贝格股份公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 林振波 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 齿轮 工件 面上 进行 接触 测量 方法 设备 | ||
1.一种用于在齿轮工件(11)的至少一个齿面(7.1)上进行接触测量的方法,该接触测量利用测量设备(10)的呈探测头、探测滑动头或探测球(4)形式的探头(3)进行,该方法包括以下步骤:
-预先确定与齿面(7.1)相关的最大区域(Fmax),
-预先确定与齿面(7.1)相关的关键区域(Fk),其中,关键区域(Fk)位于最大区域(Fmax)内,并且与最大区域(Fmax)至少部分地重叠,
-执行测量设备(10)的探头(3)的相对移动,以便沿着齿面(7.1)引导探头(3),使得:
-针对齿面(7.1)的处于最大区域(Fmax)内的若干位置提供具有第一分辨率的实际测量值,并且
-针对齿面(7.1)的处于关键区域(Fk)内的若干位置提供具有第二分辨率的实际测量值,其中,第二分辨率高于第一分辨率;
-其中,最大区域(Fmax)的具有第一分辨率的实际测量值的提供是在执行探头(3)的第一相对移动时进行的,并且当执行第一相对移动时,还提供关键区域(Fk)内的具有第一分辨率的实际测量值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,关键区域(Fk)的具有第二分辨率的实际测量值的提供是在执行第二相对移动时进行的。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,最大区域(Fmax)的实际测量值的提供和关键区域(Fk)的实际测量值的提供是在探测过程的范围内进行的。
4.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,能够针对最大区域(Fmax)和/或关键区域(Fk)预先确定恒定划分密度的测量网格。
5.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,能够针对最大区域(Fmax)和/或关键区域(Fk)预先确定可变划分密度的测量网格。
6.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,关键区域(Fk)对应于齿面(7.1)的齿接触区域、或者包括齿面(7.1)的齿接触区域、或者从关于齿面(7.1)的齿接触区域的数据获得。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,齿面(7.1)上的齿接触区域的位置从在齿轮工件(11)的设计中确定的设计数据获得。
8.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,探头(3)涉及测量设备(10)的开关探头(3),其与表面进行点状接触。
9.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,探头(3)涉及测量设备(10)的测量探头(3),其以接触模式在待测表面上被连续地引导。
10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,探头(3)经受振荡。
11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,探头(3)经受振荡。
12.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,
-齿面(7.1)上的齿接触区域的位置从数据记录获得,并且
-在齿轮工件(11)承受负载的情况下执行齿接触区域的位置的位移调整,以便基于相应调整数据来确定关键区域(Fk)。
13.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,关键区域(Fk)对应于齿面(7.1)的区域、或者包括齿面(7.1)的区域、或者从关于齿面(7.1)的与齿轮工件(11)和另一齿轮工件配对期间的激励行为相关的区域的数据获得。
14.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,通过使用计算机在准备步骤中执行齿轮工件(11)的基于计算机的接触分析,以便然后基于该接触分析来确定关键区域(Fk)。
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