[发明专利]一种硅纳米孔结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201710343955.0 申请日: 2017-05-16
公开(公告)号: CN107416762B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 袁志山;王成勇 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B82Y40/00
代理公司: 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 代理人: 鲁慧波
地址: 516000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 结构 及其 制作方法
【说明书】:

发明提供一种硅纳米孔结构及其制作方法。包括:一绝缘衬底上的硅片作为基板;在基体两侧表面沉积SiN纳米薄膜,将基体一侧的SiN刻蚀形成硅表面;同时刻蚀SiN纳米薄膜形成基体释放窗口;将金属纳米颗粒均匀分散在硅表面;在金属纳米颗粒和硅表面上方沉积保护层,在保护层上方涂覆一层增粘剂和抗碱性刻蚀液的胶,使用碱性溶液刻蚀硅基体得到由SOI氧化层、SOI顶层硅、金属纳米颗粒、保护层和保护胶组成的自支撑纳米薄膜。去除保护胶与增粘剂和SOI氧化层,刻蚀去除自支撑纳米薄膜上方部分保护层,得到保护层窗口;使用双氧水、氢氟酸配置成的刻蚀液体,辅助金属纳米颗粒刻蚀得到硅纳米孔结构。本发明工艺简单,可重复循环使用,在生化检测领域使用前景广。

技术领域

本发明属于微纳器件制备与应用技术领域,涉及一种纳米孔制作方法,特别是涉及一种硅纳米孔结构及其制作方法。

背景技术

使用纳米孔(nanopore)进行DNA分子碱基序列的识别已经研究20年。当DNA分子在电场力的作用下穿过纳米孔时,改变纳米孔内的离子电流幅值,并借该电流幅值来识别碱基。随着纳米孔DNA测序方法研究的深入,科学家们认为纳米孔阵列传感器可以实现DNA平行检测,达到高通量测序的目的。其中最具有希望的是基于固态纳米孔阵列的全内反射荧光平行检测DNA序列技术。借助于电子倍增CCD相机捕捉纳米孔阵列中每个纳米孔的DNA过孔信号,实现多个光学信号与离子电流信号一一对应,实现高通量DNA测序。(McNally B,Singer A,Yu Z,et al.Optical recognition of converted DNA nucleotides forsingle-molecule DNA sequencing using nanopore arrays[J].Nano letters,2010,10(6):2237-2244.)

作为核心功能单元,固态纳米孔的制造直接关系到检测系统的性能指标。适用于DNA测序的固态纳米孔制造方法,按照制造机理可以概括为两大类:第一类是基于高能粒子的“自上而下”的刻蚀技术(如聚焦离子束和高能电子束);第二类是在第一类基础上,基于“自下而上”的缩孔技术(电子束辅助沉积和原子层沉积等)。然而,现有的固态纳米孔制造方法都是借助于纳米级加工工具,如聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)、透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)等,同时受到设备腔体的限制,制造效率低。因此,现有方法约束了固态纳米孔阵列传感器的制造与应用。如何实现低成本、高效的固态纳米孔阵列的制造,是纳米孔DNA测序技术向微纳制造技术提出严峻的挑战。因此,研究新型固态纳米孔阵列制造方法具有十分重要的意义。本发明将正对设计出一种硅纳米孔芯片结构以及如何制造的。这种工艺简单、制造成本低的固态纳米孔芯片制造方法,必将具有重要的意义。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种硅纳米孔结构及其制作方法,用于解决现有技术不可行的弊端,同时实现现有技术与CMOS技术相兼容,能有效降低制造工艺复杂程度问题。

为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种硅纳米孔结构及其制作方法,所述制作方法至少包括步骤:

1)提供一绝缘衬底上的硅片(Silicon-On-Insulator,SOI)为基板;

2)在基板两侧表面沉积一层SiN纳米薄膜;

3)刻蚀所述基体一侧所述SiN纳米薄膜形成硅表面;

4)刻蚀所述基体一侧所述SiN纳米薄膜形成基体释放窗口;

5)将金属纳米颗粒均匀分散在所述硅表面;

6)在所述金属纳米颗粒和硅表面上方沉积保护层;

7)在保护层上方涂覆一层增粘剂以及抗碱性刻蚀液的胶;

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