[发明专利]用于器件制造的改进布局有效

专利信息
申请号: 201710303374.4 申请日: 2017-05-03
公开(公告)号: CN107452789B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 史蒂文·托马斯·皮克 申请(专利权)人: 安世有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L21/336;H01L29/423
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 顾红霞;龙涛峰
地址: 荷兰*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 器件 制造 改进 布局
【权利要求书】:

1.一种制造器件的方法,所述方法包括:

在晶圆的顶表面上形成外延层;

在所述外延层的顶表面中形成主体层;

仅在Y方向上形成多个源极植入条;

形成包括X方向和Y方向上的沟槽的沟槽交叉网,其中,Y方向上的沟槽穿过所述多个源极植入条中的每一个;

将介电材料沉积在所述沟槽交叉网中的沟槽的壁上;

用源极多晶硅填充所述沟槽交叉网中的沟槽;

仅在X方向上的源极沟槽中形成栅极沟槽;以及

用栅极多晶硅填充所述栅极沟槽,使得所述栅极多晶硅的一部分突出到所述晶圆的顶表面上方。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,在用栅极多晶硅填充所述栅极沟槽之前,将介电材料沉积到所述栅极沟槽的壁上。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,形成源极沟槽包括:形成用于形成源极接点条的源极接点沟槽。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,形成栅极沟槽包括:形成用于形成栅极接点条的栅极接点沟槽。

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