[发明专利]用于器件制造的改进布局有效
申请号: | 201710303374.4 | 申请日: | 2017-05-03 |
公开(公告)号: | CN107452789B | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 史蒂文·托马斯·皮克 | 申请(专利权)人: | 安世有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L21/336;H01L29/423 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;龙涛峰 |
地址: | 荷兰*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 器件 制造 改进 布局 | ||
1.一种制造器件的方法,所述方法包括:
在晶圆的顶表面上形成外延层;
在所述外延层的顶表面中形成主体层;
仅在Y方向上形成多个源极植入条;
形成包括X方向和Y方向上的沟槽的沟槽交叉网,其中,Y方向上的沟槽穿过所述多个源极植入条中的每一个;
将介电材料沉积在所述沟槽交叉网中的沟槽的壁上;
用源极多晶硅填充所述沟槽交叉网中的沟槽;
仅在X方向上的源极沟槽中形成栅极沟槽;以及
用栅极多晶硅填充所述栅极沟槽,使得所述栅极多晶硅的一部分突出到所述晶圆的顶表面上方。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,在用栅极多晶硅填充所述栅极沟槽之前,将介电材料沉积到所述栅极沟槽的壁上。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,形成源极沟槽包括:形成用于形成源极接点条的源极接点沟槽。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,形成栅极沟槽包括:形成用于形成栅极接点条的栅极接点沟槽。
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